[发明专利]像素结构及其制作方法在审

专利信息
申请号: 201410124210.1 申请日: 2014-03-28
公开(公告)号: CN103872142A 公开(公告)日: 2014-06-18
发明(设计)人: 周政伟 申请(专利权)人: 友达光电股份有限公司
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L23/522;H01L21/60;G02F1/1368
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 郭蔚
地址: 中国台湾新竹科*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种像素结构,包括一薄膜晶体管元件。薄膜晶体管元件包括一第一连接电极、一第二连接电极、一氧化物半导体通道层、一栅极绝缘层、一栅极、一介电层、一源极与一漏极。氧化物半导体通道层的两侧分别部分覆盖第一连接电极的上表面与第二连接电极的上表面。栅极设置于栅极绝缘层上。介电层设置于栅极与栅极绝缘层上,栅极绝缘层与该介电层具有一第一接触洞至少部分暴露出第一连接电极的上表面,与一第二接触洞至少部分暴露出第二连接电极的上表面。源极经由第一接触洞与第一连接电极电性连接,且漏极经由第二接触洞与第二连接电极电性连接。
搜索关键词: 像素 结构 及其 制作方法
【主权项】:
一种像素结构,其特征在于,包括:一基板;一薄膜晶体管元件,设置于该基板上,该薄膜晶体管元件包括:一第一连接电极与一第二连接电极,设置于该基板上;一氧化物半导体通道层,设置于该基板上,其中该氧化物半导体通道层的两侧分别部分覆盖该第一连接电极的一上表面与该第二连接电极的一上表面;一栅极绝缘层,设置于该基板上并覆盖该氧化物半导体通道层、该第一连接电极与该第二连接电极;一栅极,设置于该栅极绝缘层上;一介电层,设置于该栅极与该栅极绝缘层上,其中该栅极绝缘层与该介电层具有一第一接触洞至少部分暴露出该第一连接电极的该上表面,以及一第二接触洞至少部分暴露出该第二连接电极的该上表面;以及一源极与一漏极,设置于该介电层上,其中该源极经由该第一接触洞与该第一连接电极电性连接,且该漏极经由该第二接触洞与该第二连接电极电性连接;一第一保护层,设置于该介电层上,其中该第一保护层具有一第三接触洞,至少部分暴露出该漏极;以及一第一像素电极,设置于该第一保护层上,其中该第一像素电极经由该第三接触洞与该薄膜晶体管元件的该漏极电性连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于友达光电股份有限公司,未经友达光电股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410124210.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top