[发明专利]封装结构及其制造方法有效
申请号: | 201410125667.4 | 申请日: | 2014-03-31 |
公开(公告)号: | CN104637895B | 公开(公告)日: | 2017-06-30 |
发明(设计)人: | 廖宗仁 | 申请(专利权)人: | 南茂科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/367 | 分类号: | H01L23/367;H01L21/48 |
代理公司: | 北京市铸成律师事务所11313 | 代理人: | 孟锐 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明系关于一种具有侧边散热设计的扇出封装结构,包括一半导体基板,一焊垫位于所述半导体基板上,以及一重分布线路层连接于所述焊垫并位于所述半导体基板上方且该重分布线路层的一端往所述半导体基板的一侧壁延伸,且所述端与所述侧壁切齐。 | ||
搜索关键词: | 封装 结构 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种具有侧边散热设计的扇出封装结构,包括:一半导体基板;一焊垫位于所述半导体基板上;以及一重分布线路层位于所述焊垫上方,且该重分布线路层包含第一部分、第二部分以及阻断所述第一部分及所述第二部分之间电性连接的开口,其中所述第一部分与所述焊垫电性连接,所述第二部分作为虚设重分布部分向所述半导体基板的一侧壁延伸,且所述第二部分与所述侧壁切齐。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南茂科技股份有限公司,未经南茂科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410125667.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:半导体模块和其制造方法
- 下一篇:指纹识别模组的封装结构及其封装方法