[发明专利]测量颗粒粒径分布的方法及装置无效
| 申请号： | 201410126595.5 | 申请日： | 2014-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN103983546A | 公开（公告）日： | 2014-08-13 |
| 发明（设计）人： | 杨福桂;王秋实;李明;盛伟繁 | 申请（专利权）人： | 中国科学院高能物理研究所 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 | 代理人： | 孟阿妮 |
| 地址： | 100049 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种测量颗粒粒径分布的方法及装置，其中，测量颗粒粒径分布的方法包括：通过阵列探测器测量颗粒群散射光强的角分布，其中，所述角分布中的离散角度对应所述阵列探测器的各个离散探测像素；选定粒径区间及采样粒径，根据所述粒径区间和所述采样粒径计算所述采样粒径的粒径参数，并基于Mie散射计算系数矩阵；将所述系数矩阵与所述角分布作为最大似然函数迭代反演方法的参数，计算所述颗粒群的最终粒径分布。本发明能够对低信噪比测量数据实现准确的粒径分布反演计算。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 颗粒 粒径 分布 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种测量颗粒粒径分布的方法，其特征在于，包括：通过阵列探测器测量颗粒群散射光强的角分布，其中，所述角分布中的离散角度对应所述阵列探测器的各个离散探测像素；选定粒径区间及采样粒径，根据所述粒径区间和所述采样粒径计算所述采样粒径的粒径参数，并基于Mie散射计算系数矩阵；将所述系数矩阵与所述角分布作为最大似然函数迭代反演方法的参数，计算所述颗粒群的最终粒径分布。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院高能物理研究所，未经中国科学院高能物理研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410126595.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种大方量混凝土搅拌运输车副车架
- 下一篇：反烧式无烟环保锅炉
