[发明专利]一种快速评价水处理有机膜分离材料抗生物污染性能的方法有效
申请号: | 201410127048.9 | 申请日: | 2014-03-31 |
公开(公告)号: | CN103852564A | 公开(公告)日: | 2014-06-11 |
发明(设计)人: | 任洪强;黄辉;丁丽丽;耿金菊;许柯;张宴 | 申请(专利权)人: | 南京大学 |
主分类号: | G01N33/00 | 分类号: | G01N33/00;G01N1/28;G06F19/00 |
代理公司: | 南京知识律师事务所 32207 | 代理人: | 蒋海军 |
地址: | 210046 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种快速评价水处理有机膜分离材料抗生物污染性能的方法,属于水处理技术领域。本发明的步骤为:一、制备有机膜分离材料基质芯片;二、制备测试用水样;三、将有机膜分离材料基质芯片置于石英晶体微天平中,通入测试用水样,检测芯片在不同倍频下的频率和耗散数据;四、采用Voigt或Maxwell模型拟合得到粘弹性薄层厚度变化规律,比较基质芯片表面粘弹性薄层最大厚度拟合值,判定不同测试用水样条件下有机膜分离材料的抗生物污染性能。本发明采用对界面变化敏感的石英晶体微天平监测水样中溶解性污染物在有机膜材料基质表面的流体力学行为,快速判定膜分离材料的抗生物污染性能,水样用量少,稳定性好,易于量化。 | ||
搜索关键词: | 一种 快速 评价 水处理 有机 分离 材料 抗生 污染 性能 方法 | ||
【主权项】:
一种快速评价水处理有机膜分离材料抗生物污染性能的方法,其步骤为:步骤一、将有机膜分离材料基质化学物质涂覆于标准芯片上,制备有机膜分离材料基质芯片;步骤二、制备测试用水样;步骤三、将步骤一制得的有机膜分离材料基质芯片置于石英晶体微天平中,通入步骤二制得的测试用水样,检测基质芯片在不同倍频条件下的频率和耗散数据;步骤四、利用步骤三检测获得数据,采用Voigt或Maxwell模型拟合得到粘弹性薄层厚度变化规律,比较基质芯片表面粘弹性薄层最大厚度拟合值,判定不同测试用水样条件下有机膜分离材料的抗生物污染性能。
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