[发明专利]用大地测量精确单点确定和扫描对物体进行表面确定有效
| 申请号： | 201410136729.1 | 申请日： | 2014-04-04 |
| 公开（公告）号： | CN104101872B | 公开（公告）日： | 2017-12-01 |
| 发明（设计）人： | H-M·佐格;N·科特祖尔 | 申请（专利权）人： | 莱卡地球系统公开股份有限公司 |
| 主分类号： | G01S13/06 | 分类号： | G01S13/06;G01S13/88 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司11127 | 代理人： | 吕俊刚,刘久亮 |
| 地址： | 瑞士海*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 用大地测量精确单点确定和扫描对物体进行表面确定。一种用于和利用大地测量装置的、用于测量物体的方法，该方法具有以下步骤获得至少针对一个物体区的表面信息项；针对物体区进行至少一个大地测量精确的单点确定，其中，大地测量精确地确定所述至少一个物体点的位置；以及基于至少一个物体点的所确定的位置来更新表面信息项。扫描以获得所述表面信息项的步骤利用测量辐射的渐进式对准变化对所述物体区进行与物体点无关的扫描来执行，并且具体地，按预定扫描点分辨率，确定针对用于位于所述物体区内的扫描点的距离测量所发射的所述测量辐射的相应距离和相应对准，并且具有生成点云的步骤，该点云表示所述表面信息项并且具有所述扫描点。 | ||
| 搜索关键词： | 大地测量 精确 单点 确定 扫描 物体 进行 表面 | ||
【主权项】：
一种用于和利用大地测量装置的用于测量物体的方法，该方法具有以下步骤：获得至少针对一个物体区的表面信息项，并且针对所述物体区内的物体点进行至少一个大地测量精确单点确定，其中，大地测量精确地确定至少一个物体点的位置，其特征在于进行扫描以获得所述表面信息项，具有以下步骤：由测量辐射的渐进式对准变化对所述物体区进行与物体点无关的扫描，确定所述测量辐射的相应距离和相应对准，所述测量辐射是用于针对在所述物体区内的扫描点进行距离测量而发射的，以及生成点云，所述点云表示所述表面信息项并且具有所述扫描点，以及更新由所述点云表示的所述表面信息项，基于位于所述物体区内的所述至少一个物体点的所确定的位置来完成针对所述点云的位置的所述更新。
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