[发明专利]一种平面度测试方法及其装置

摘要

本发明公开了一种平面度测试方法及其装置，包括步骤：S1，获取待测产品表面的高度信息；S2，对获取得到的信息进行解析，得到X、Y、Z坐标值；S3，数据采样，将产品表面相邻区域的N*N个点合并为一个点，该点的值取该区域的平均值；S4，平面拟合，通过最小二乘法计算得到系数a、b和c，从而得到待测产品表面所在的平面；S5，将产品平面分布的点分为两类，一类位于产品表面上侧，一类位于产品表面下侧，并得到产品表面上侧和下侧之间的最大距离值，该值即可产品的平面度。本发明测试得到的平面度精度高，测试效率高。

主权项

一种平面度测试方法，包括以下步骤：S1，获取待测产品上表面和产品托盒表面间的高度信息；S2，对获取得到的高度信息进行解析，得到待测产品上表面各点的X、Y、Z坐标，得到产品上表面所有点的数据集合为V=｛x_i,y_i,z_i}；S3，平面拟合，根据平面方程z＝ax+by+c,结合上述获得的数据，通过最小二乘法计算得到系数a、b和c，从而得到待测产品表面所在的平面；S4，计算平面度值，将获取得到的待测产品上表面的所有点投影到拟合平面z＝ax+by+c上，计算出各点到平面的距离；S5，若点到平面的距离zi＝axi+byi+c，则该点位于平面上；若点到平面的距离zi>axi+byi+c，则该点位于平面上侧；若点到平面的距离zi<axi+byi+c，则该点位于平面下侧，然后分别统计平面上侧和平面下侧各点到平面的距离的最大值，两最大值之和即为待测产品的平面度值。