[发明专利]一种TDI红外探测器扫描成像系统扫描速率评估方法有效

专利信息
申请号: 201410138663.X 申请日: 2014-04-08
公开(公告)号: CN104050356B 公开(公告)日: 2017-03-15
发明(设计)人: 闫秀荣;马文坡;聂云松;李岩;李昊谦 申请(专利权)人: 北京空间机电研究所
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00;G01M11/00
代理公司: 中国航天科技专利中心11009 代理人: 安丽
地址: 100076 北京市丰*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种TDI红外探测器扫描成像系统扫描速率评估方法,基于成像系统输出的靶标图像中探测器奇、偶元图像位置偏差,定量分析扫描速率与系统其它相关参数的匹配情况,进而调整扫描控制参数,满足成像系统要求。此外,为了对整个扫描视场的扫描速率进行评估,提出采用调整机构使成像系统可以绕扫描镜转轴旋转的方法,实现了全视场扫描速率的检测和评估。本发明具有评估方法简单、灵活和测试精度高等优点,可用于TDI红外探测器扫描成像系统中扫描速率的评估。
搜索关键词: 一种 tdi 红外探测器 扫描 成像 系统 速率 评估 方法
【主权项】:
一种TDI红外探测器扫描成像系统扫描速率评估方法,其特征在于实现步骤如下:(1)采用两点法对扫描成像系统输出的四杆靶标图像进行非均匀校正,在每杆靶标图像中对第n元红外探测器的靶标图像边缘,即从暗条纹到亮条纹部分和从亮条纹到暗条纹部分均选取暗条纹5~12列、亮条纹5~12列的图像,对选取的数据通过三次样条函数对数据进行10倍插值;对第n+1元红外探测器的靶标图像边缘,即从暗条纹到亮条纹部分和从亮条纹到暗条纹部分均选取暗条纹5~12列、亮条纹5~12列的图像,对选取的数据通过三次样条函数对数据进行10倍插值;(2)对步骤(1)中校正后的四杆靶标图像,计算每杆亮条纹图像数据的均值,计算每杆暗条纹图像数据的均值;将每杆暗条纹和亮条纹图像的均值求差值,取差值的1/2并与暗条纹均值求和得到每杆靶标图像半功率点图像DN值;(3)对步骤(1)中每杆靶标图像插值后的数据通过查找法,查找第n元和第n+1元红外探测器在步骤(2)中半功率点图像DN值处对应的列数Kn和Kn+1;计算Kn+1与Kn绝对值差ΔK;(4)通过步骤(3)中的ΔK计算扫描成像系统的扫描速率偏差,计算公式如下:式(1)中:△V:扫描速率偏差;V:标称扫描速率;△K:探测器奇偶元图像位置偏差;d:探测器奇元与偶元间距与成像系统采样间距的比值;当△K为0时,即△V为0,此时扫描速率与系统焦距、积分时间参数完全匹配;当△K为非0时,△V亦为非0,即扫描速率与系统焦距、积分时间参数不完全匹配;(5)利用四杆靶标每次只能测试扫描视场的一部分,为了对整个扫描视场的扫描速率进行评估,利用调整机构使成像系统绕扫描镜转轴旋转,使不同的扫描视场能够对准平行光管的中心视场。
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