[发明专利]网卡芯片测试方法及系统在审
| 申请号： | 201410143076.X | 申请日： | 2014-04-10 |
| 公开（公告）号： | CN103955418A | 公开（公告）日： | 2014-07-30 |
| 发明（设计）人： | 官治超;李华 | 申请（专利权）人： | 龙芯中科技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;H04L12/26 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 刘芳 |
| 地址： | 100095 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种网卡芯片测试方法及系统，该方法包括：设置辅助测试设备，以使辅助测试设备发出测试数据包；将辅助测试设备的网口与网卡芯片测试治具的TC6模块上的网口J701连接；将待测试设备的网口与TC6模块上的网口J800连接；通过待测试设备和探棒将测试数据包引出到示波器上。本发明的技术方案，可以避免由于网卡芯片无法发出测试数据包导致的网卡芯片无法测试的问题，并且不需要专业软件人员就能完成网卡芯片的测试，节省人力物力，提高工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 网卡 芯片 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种网卡芯片测试方法，其特征在于，包括：设置辅助测试设备，以使所述辅助测试设备发出测试数据包；将所述辅助测试设备的网口与网卡芯片测试治具的TC6模块上的网口J701连接；将待测试设备的网口与所述TC6模块上的网口J800连接；通过所述待测试设备和探棒将所述测试数据包引出到示波器上。
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