[发明专利]一种晶圆测试过程中的拾片文件的自动生成方法有效

专利信息
申请号: 201410143264.2 申请日: 2014-04-11
公开(公告)号: CN104715101B 公开(公告)日: 2018-07-24
发明(设计)人: 金兰;石志刚;杨振宇 申请(专利权)人: 北京确安科技股份有限公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 苗青盛
地址: 100094 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种晶圆测试过程中的拾片文件的自动生成方法,通过探针台最终Map图信息自动生成拾片文件的方法;操作步骤是:选择要输入的有效的Map图文件,选择用户要求的拾片文件输出文件格式,选择拾片文件输出路径,自动生成拾片文件;该发明方法消除了现有的拾片文件的不安全因素,操作简便、快速、结果安全,节约了测试成本,保证了被测晶圆管芯测试结果的唯一性。
搜索关键词: 一种 测试 过程 中的 文件 自动 生成 方法
【主权项】:
1.晶圆测试过程中的拾片文件的自动生成方法,其特征在于,包括以下步骤:选择要输入的有效的Map图文件,格式为*.txt或者*.map,选择客户要求的拾片文件输出格式,选择拾片文件输出路径,从所述有效的Map图文件中提取有效信息,根据所述有效信息自动生成拾片文件;其中,所述有效的Map图文件为自动探针台的最终Map图,所述Map图包括以下信息:LotID、WaferID、行数、列数、翻转角度、XY轴坐标以及Bin值;且所述Map图中P为好管芯,F为坏管芯,M为晶圆边缘的不完整管芯,其余四角部分为非测试区域;所述拾片文件的文件名中包括LotID和WaferID,以保证晶圆管芯测试结果的唯一性。
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