[发明专利]缺陷电连接的检测有效
| 申请号： | 201410145461.8 | 申请日： | 2014-04-11 |
| 公开（公告）号： | CN104101811B | 公开（公告）日： | 2017-09-22 |
| 发明（设计）人： | F·约斯特;J·巴伦舍恩;P·G·布勒克霍夫 | 申请（专利权）人： | 英飞凌科技奥地利有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02;H01L23/64 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所11256 | 代理人： | 王茂华 |
| 地址： | 奥地利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明的实施例公开了一种有缺陷电连接的检测。该实施例涉及集成电路，所述集成电路包括至少两个电连接和与至少一个电连接相邻地布置的至少一个线圈，其中至少一个线圈中的每个线圈都包括至少一个绕组，并且其中至少一个线圈被布置在集成电路上或集成电路中。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 连接 检测 | ||
【主权项】：
一种集成电路－包括第一线圈和第二线圈，－包括并联布置以共享电流负载的第一电连接、第二电连接和第三电连接，－其中所述第一线圈位于所述第一电连接和所述第二电连接之间或者与所述第一电连接和所述第二电连接相邻地布置，－其中所述第二线圈位于所述第二电连接和所述第三电连接之间或者与所述第二电连接和所述第三电连接相邻地布置，－其中所述第一线圈和所述第二线圈都包括至少一个绕组，以及－其中所述第一线圈和第二线圈被布置在所述集成电路上或在所述集成电路中。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于英飞凌科技奥地利有限公司，未经英飞凌科技奥地利有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410145461.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种基于自定时振荡环的工艺角检测电路
- 下一篇：一种继电保护交流采样测试系统
