[发明专利]半导体加工设备有效

专利信息
申请号: 201410146642.2 申请日: 2014-04-11
公开(公告)号: CN104979237B 公开(公告)日: 2018-03-09
发明(设计)人: 张鹏 申请(专利权)人: 北京北方华创微电子装备有限公司
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司11112 代理人: 彭瑞欣,张天舒
地址: 100176 北*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种半导体加工设备,其反应腔室、设置在反应腔室底部的抽气腔室和抽气系统,其中,在反应腔室的底部设置有排气口,且对应地在抽气腔室的顶部设置有进气口,进气口与排气口连接;并且,在抽气腔室的侧壁上设置有出气口,用以排出所述抽气腔室内的气体;并且在抽气腔室内,且位于出气口的下方设置有锥状环,锥状环的下端口小于上端口;锥状环用于将抽气腔室分隔为上腔室和下腔室,上腔室和下腔室通过锥状环的环孔相连通。本发明提供的半导体加工设备,其不仅可以减少气流中携带的部分副产物颗粒的积存,而且还可以抑制积存的副产物颗粒被气流扬起,从而可以避免副产物颗粒返回反应腔室。
搜索关键词: 半导体 加工 设备
【主权项】:
一种半导体加工设备,其包括反应腔室和设置在所述反应腔室底部的抽气腔室,其中,在所述反应腔室的底部设置有排气口,且对应地在所述抽气腔室的顶部设置有进气口,所述进气口与所述排气口连接;并且,在所述抽气腔室的侧壁上设置有出气口,用以排出所述抽气腔室内的气体,其特征在于,在所述抽气腔室内,且位于所述出气口的下方设置有锥状环,所述锥状环的下端口小于上端口;所述锥状环用于将所述抽气腔室分隔为上腔室和下腔室,所述上腔室和下腔室通过所述锥状环的环孔相连通。
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