[发明专利]制备多组分膜的方法有效

专利信息
申请号: 201410146690.1 申请日: 2014-04-11
公开(公告)号: CN104099578B 公开(公告)日: 2018-12-07
发明(设计)人: 萧满超;I·布查南;金武性;S·V·伊万诺夫;雷新建;黃哲盛;權兑烘 申请(专利权)人: 弗萨姆材料美国有限责任公司
主分类号: C23C16/30 分类号: C23C16/30;C23C16/44
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 吴亦华
地址: 美国亚*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 本文描述了用于沉积多组分膜的方法和前体组合物。在一个实施方式中,本文描述的方法和组合物用于经由原子层沉积(ALD)来沉积含锗膜例如锗碲、锑锗和锗锑碲(GST)膜和/或用于沉积用于相变存储器和光电设备的其他基于锗、碲和硒的金属化合物。在这个或其他实施方式中,所使用的Ge前体包含三氯锗烷。
搜索关键词: 制备 组分 方法
【主权项】:
1.将多组分膜沉积在至少一部分基底上的方法,包括以下步骤:a)将基底与包含HGeCl3的Ge前体接触,以与所述基底反应并提供包含Ge的第一涂层;b)引入吹扫气体以去除任何未反应的Ge前体;c)将所述包含Ge的第一涂层与包含Te前体的Te前体接触,其中所述Te前体的至少一部分与包含在其中的Ge反应,以提供包含Ge和Te的第二涂层;d)引入吹扫气体以去除任何未反应的Te前体;e)将所述包含Ge和Te的第二涂层与Sb前体接触,其中所述Sb前体的至少一部分与包含在其中的Ge和Te的至少一部分反应,以提供包含Ge、Te和Sb的第三涂层;和f)引入吹扫气体以去除任何未反应的Sb前体;其中重复步骤(a)至(f)以形成多个涂层并提供所述膜。
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