[发明专利]通用测试装置有效

专利信息
申请号: 201410153404.4 申请日: 2014-04-17
公开(公告)号: CN105021848B 公开(公告)日: 2018-06-19
发明(设计)人: 高合助;李冠兴 申请(专利权)人: 环旭电子股份有限公司;环鸿科技股份有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 上海音科专利商标代理有限公司 31267 代理人: 张成新
地址: 201203 上海市浦东新区张*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种通用测试装置,用于测试待测物,其包含有承载盘、加压头以及多个弹性定位件;其中,承载盘设有测试槽,测试槽内设有探针;加压头可移动地设于承载盘并具有压块,该压块能够随着加压头移动而靠近测试槽并对待测物施加压力;弹性定位件设置于承载盘,并且围绕且贴近测试槽的外周缘;由此,弹性定位件能够让厚度较薄的待测物不易因受外力的影响而跑出测试槽外,而且,在测试过程中弹性定位件也不会影响到压块压抵待测物,因此压块无需个别设计而能通用,从而方便使用。 1
搜索关键词: 测试槽 弹性定位件 承载盘 压块 待测物 加压头 通用测试装置 测试过程 可移动地 施加压力 外周缘 探针 压抵 测试 通用 移动
【主权项】:
1.一种通用测试装置,用于测试待测物,所述通用测试装置包含有:承载盘,所述承载盘上凹设有测试槽,所述测试槽设有多个探针;加压头,其以能够移动的方式设置于所述承载盘的上方,能够在加压位置与离开位置之间移动以分别靠近或远离所述测试槽,所述加压头的表面连接有压块,以对所述待测物施加压力;多个弹性定位件,其设置于所述承载盘,并且围绕且贴近所述测试槽的外周缘,用于定位所述待测物,所述承载盘设有底板,所述底板设有所述测试槽,当所述压块在下压时,所述待测物与所述弹性定位件会受到所述压块的压抵而同时向下移动,直到所述压块靠抵于所述底板而停止。
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