[发明专利]磁角度位置传感器有效
| 申请号： | 201410155748.9 | 申请日： | 2014-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN104048594B | 公开（公告）日： | 2018-06-12 |
| 发明（设计）人： | A·F·茨威泽;K·E·范奥斯特兰德 | 申请（专利权）人： | 森萨塔科技公司 |
| 主分类号： | G01B7/30 | 分类号： | G01B7/30 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 李向英 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 公开了磁角度位置传感器。在具体实施例中，是一种可以用于基于，例如，磁体的磁角度来测量与多个磁体相关联的多个位置的方法。该方法可以包括多个操作，这些操作包括，例如，测量与多个磁体相关联的磁场分量。此外，所述操作包括基于所测量的磁场分量确定第一角度和第二角度。已确定的第一和第二角度可以用于确定多个磁体中第一磁体的位置和多个磁体中第二磁体的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 角度位置传感器 磁场分量 测量 关联 | ||
【主权项】：
一种测量方法，其特征在于包括：测量与包含在磁角度位置传感器中的多个磁体相关联的多个磁场分量，所述多个磁场分量包括：x磁场方向中的多个磁体的磁场的强度Bx；y磁场方向中的多个磁体的磁场的强度By；及z磁场方向中的多个磁体的磁场的强度Bz，其中所述x磁场方向、y磁场方向和z磁场方向是相对于以下点而言的：Bx、By和Bz从该点进行测量；基于所测量的磁场分量确定第一角度，所述第一角度表示与所述多个磁体中的第一磁体相关联的角度位置；基于所测量的磁场分量确定第二角度，所述第二角度表示与所述多个磁体中的第二磁体相关联的角度位置；基于确定的第一角度和确定的第二角度确定所述第一磁体的位置；基于确定的第一角度和确定的第二角度确定所述第二磁体的位置。
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