[发明专利]大口径晶体材料光吸收系数测量装置

摘要

本发明提供了一种大口径晶体材料光吸收系数测量装置，所述的测量装置利用可调谐激光光源、激光稳功率系统形成稳定的准直激光束，稳定的激光束照射在被测大口径晶体上，利用光学自准直法对入射激光与大口径晶体表面的垂直性、大口径晶体o轴或e轴与台面的垂直性提供监控，利用起偏、检偏器调整输出激光偏振方向与大口径晶体的o轴或e轴平行，通过测量特定偏振态下下大口径晶体o光或e光的透射比，利用比尔－朗伯定律推导出晶体材料对o光或e光的单点吸收系数公式，从而可实现大口径晶体吸收系数的测量，最后经过高精度扫描样品载台机构对大口径晶体材料进行扫描拼接测量，实现大口径晶体材料对o光或e光的光吸收系数的精密测量。

主权项

一种大口径晶体材料光吸收系数测量装置，其特征在于：所述装置中可调谐激光器（1）发出的光束经过激光稳功率系统（2）后形成功率稳定的准直的激光束，稳定的准直激光束经过分束器（3）后分为透射光和反射光两束，其中，反射光束被监视探测器（5）接收，透射光束经过起偏器（6）起偏后照射在大口径晶体样品（7）上，通过大口径晶体样品（7）的透射光束被测量探测器（11）接收，检偏器（10）在调试测量光束偏振态与大口径晶体样品（7）的o轴或e轴间的角度时使用，测量时移出光路，被大口径晶体样品（7）的反射的光束经分束器（3）后入射至准直CCD（4），以确保入射激光与大口径晶体表面的垂直性，自准直仪（9）对准晶体样品的侧面，确保大口径晶体o轴或e轴与台面的垂直性，准直CCD（4）、自准直仪（9）、监视探测器（5）和测量探测器（11）测得数据输出送入计算机（12），起偏器电控台（13）、检偏器电控台（14）、大口径晶体的样品载台（8）受计算机（12）控制。