[发明专利]一种用X射线衍射测定C纤维增强树脂基复合材料的方法

摘要

一种用X射线衍射测定C纤维增强树脂基复合材料的方法，涉及一种测定C纤维增强树脂基复合材料的方法。本发明是要解决现有X射线测定C纤维增强树脂基复合材料的方法存在的只能测定试件C纤维增强树脂基复合材料表层的残余应力，而不能测定各个深度的残余应力的技术问题。方法为：取C纤维增强树脂基复合材料的试件用盐酸逐层腐蚀后，用去离子水将表面进行清洗，放入X射线应力测定仪，进行测试，再计算，得到各个深度的残余应力，即完成。采用本发明测定C纤维增强树脂基复合材料的残余应力，既能保证逐层腐蚀不会增加额外的残余应力，又能得到准确的大型试件不同深度的残余应力。本发明应用于C纤维增强树脂基复合材料的测定领域。

主权项

一种用X射线衍射测定C纤维增强树脂基复合材料的方法，其特征在于用X射线衍射测定C纤维增强树脂基复合材料的方法是按以下步骤进行：一、取C纤维增强树脂基复合材料的试件，将平整表面用浓度为30％～98％的盐酸腐蚀40～80微米后，用去离子水将表面进行清洗；二、将X射线应力测定仪经过初始化、高压预热后，放入步骤一腐蚀后的C纤维增强树脂基复合材料，然后进行单次曝光去背底、多次曝光测试，再计算，得出C纤维增强树脂基复合材料的残余应力；三、重复步骤一和步骤二至得到各个深度的C纤维增强树脂基复合材料的残余应力，即完成C纤维增强树脂基复合材料的测定。