[发明专利]光学式非破坏检查方法以及光学式非破坏检查装置

摘要

本发明提供光学式非破坏检查方法以及光学式非破坏检查装置，能在短时间内进行正确的检查，利用激光不破坏测定对象物地加热测定对象物，基于测定对象物的温度上升特性的曲线形状判定测定对象物的状态。该方法及装置使用加热用激光源(21)、至少一个红外线检测器(31、32)、控制装置(50)和存储装置(60)。在存储装置存储将与测定对象物的状态对应的参数和表示与该参数的状态对应地不同的温度上升特性的曲线形状的时间常数建立联系的参数状态-时间常数特性。通过控制装置求得基于温度上升特性中的加热开始时刻到达到饱和温度的时刻的曲线形状的时间常数，基于求得的时间常数与参数状态-时间常数特性判定测定对象物的参数的状态。

主权项

一种光学式非破坏检查方法，其具有如下步骤：加热用激光照射，其根据控制单元对加热用激光源进行控制，朝向设定在测定对象物上的测定点照射加热用激光；放射红外线检测，其中通过所述控制单元，使用红外线检测单元对从所述测定点放射的光中取出的规定红外线波长的红外线进行检测；温度上升特性测定，其中通过所述控制单元，基于由所述放射红外线检测步骤中检测出的检测值与作为所述加热用激光的照射时间的加热时间，对作为与加热时间对应的所述测定点的温度上升状态的温度上升特性进行测定，所述光学式非破坏检查方法的特征在于，所述光学式非破坏检查方法使用光学式非破坏检查装置来执行，所述光学式非破坏检查装置具有：加热用激光源，其射出设定为不破坏测定对象物地对测定对象物进行加热的输出的加热激光波长的加热用激光；能够检测红外线的至少一个红外线检测单元；控制单元，其对所述加热用激光源进行控制，并且获取来自所述红外线检测单元的检测信号；以及存储单元，其存储有参数状态‑时间常数特性，定义了与应该判定的测定对象物的状态对应的参数的状态，所述温度上升特性与该参数的状态对应地不同，所述参数状态‑时间常数特性是表示所述温度上升特性的曲线形状的时间常数存在与所述参数的状态建立联系而成的。