[发明专利]半导体元件在审

专利信息
申请号: 201410169264.X 申请日: 2014-04-25
公开(公告)号: CN104253125A 公开(公告)日: 2014-12-31
发明(设计)人: 川濑稔;崔秀明;细井重広 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 张丽
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供静电电容小且导通电阻低的半导体元件。实施方式的半导体元件具有:第1二极管,第1阴极与流过电流的信号线电连接;第2二极管,具有第2阳极和第2阴极,与所述第1二极管并联地连接,并且所述第2阳极与所述信号线连接;第3二极管,以与所述第2二极管串联地连接的方式,第3阴极与所述第2阴极连接,并且具有比所述第1二极管以及所述第2二极管高的静电电容;以及第4二极管,以与所述第1二极管串联地连接的方式,第4阳极与所述第1阴极连接。
搜索关键词: 半导体 元件
【主权项】:
一种半导体元件,其特征在于,具有:第1阳极层;第1阴极层,设置于所述第1阳极层上;第1导电类型的第2半导体层,包围所述第1阴极层,设置于所述第1阳极层上;第4阴极层,设置于所述第1阴极层的表面;第4阳极层,设置于所述第1阴极层与所述第4阴极层之间;第2阴极层,设置于所述第1阳极层上;第2导电类型的第3半导体层,包围所述第2阴极层,设置于所述第1阳极层上;第3阴极层,设置于所述第2阴极层以及所述第3半导体层与所述第1阳极层之间,具有比所述第2阴极层的第2导电类型杂质浓度高的第2导电类型杂质浓度;第2阳极层,设置于所述第2阴极层上;第1电极,与所述第1阳极层电连接;以及第2电极,与所述第4阴极层和所述第2阳极层电连接。
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