[发明专利]芯片内部节点电压的测试电路

摘要

本发明公开一种芯片内部节点电压的测试电路，设置于芯片内部且用于测试芯片内部的2ⁿ个待测节点的节点电压。测试电路包括移位寄存器模块、电压选择模块、比较模块、待测节点选择模块及测试使能模块。电压选择模块的2ⁿ个输入端连接于移位寄存器模块的2ⁿ个输出端。比较模块的第一输入端与第二输入端分别连接于电压选择模块的第一输出端与第二输出端。待测节点选择模块的输入端连接于移位寄存器模块的2ⁿ个输出端与比较模块的输出端。测试使能模块包括测试使能单元，测试使能单元的输出端连接于移位寄存器模块、电压选择模块、比较模块及待测节点选择模块的使能端。本发明提供的芯片内部节点电压的测试电路具有极大的通用性。

主权项

一种芯片内部节点电压的测试电路，设置于芯片内部且用于测试所述芯片内部的2ⁿ个待测节点的节点电压，n为正整数，其特征在于，所述芯片内部节点电压的测试电路包括：移位寄存器模块，所述移位寄存器模块的2ⁿ个输出端输出2ⁿ个移位时钟信号；电压选择模块，所述电压选择模块的2ⁿ个输入端连接于所述移位寄存器模块的2ⁿ个输出端，所述电压选择模块接收所述2ⁿ个移位时钟信号；所述电压选择模块产生2ⁿ个参考电压；所述电压选择模块根据接收的所述2ⁿ个移位时钟信号在第一输出端输出第一参考电压，在第二输出端输出第二参考电压；比较模块，所述比较模块的第一输入端连接于所述电压选择模块的第一输出端以接收所述第一参考电压，所述比较模块的第二输入端连接于所述电压选择模块的第二输出端以接收所述第二参考电压，所述比较模块的第三输入端接收激励电压；所述比较模块根据接收的所述第一参考电压、所述第二参考电压及所述激励电压输出锁存控制信号；待测节点选择模块，所述待测节点选择模块的输入端连接于所述移位寄存器模块的2ⁿ个输出端与所述比较模块的输出端，所述待测节点选择模块接收所述2ⁿ个移位时钟信号与所述锁存控制信号，所述待测节点选择模块根据接收的所述2ⁿ个移位时钟信号与所述锁存控制信号连接至所述2ⁿ个待测节点中的一个并且输出被连接的所述待测节点的节点电压；以及测试使能模块，所述测试使能模块包括测试使能单元，所述测试使能单元的输出端连接于所述移位寄存器模块、所述电压选择模块、所述比较模块以及所述待测节点选择模块的使能端，所述测试使能单元接收所述激励电压并向所述移位寄存器模块、所述电压选择模块、所述比较模块以及所述待测节点选择模块输出使能信号。