[发明专利]多个传感器间相互位置关系校准方法有效

专利信息
申请号: 201410171812.2 申请日: 2014-04-25
公开(公告)号: CN105005182B 公开(公告)日: 2017-06-27
发明(设计)人: 马琳琳;杨志勇;孙刚 申请(专利权)人: 上海微电子装备有限公司
主分类号: G03F9/00 分类号: G03F9/00
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 代理人: 屈蘅,李时云
地址: 201203 上*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种多个传感器间相互位置关系校准方法,通过掩模对准传感器和基板对准传感器测量设置在工件台基准版上的基准标记,建立掩模对准传感器与基板对准传感器之间的位置关系。具体包括,步骤1采用掩模对准传感器对工件台基准版上的基准标记进行位置测量;步骤2通过该基准标记上的第一标记对掩模对准传感器进行位置标定;步骤3通过该基准标记上的第二标记对基板对准传感器进行位置标定。本发明通过掩模对准建立掩模与工件台的位置关系,再建立基板与工件台的位置关系,从而可以间接建立掩模与基板的位置关系,可以有效解决掩模、基板传感器间相互位置漂移问题,从而消除该漂移对套刻的影响。
搜索关键词: 传感器 相互 位置 关系 校准 方法
【主权项】:
一种多个传感器间相互位置关系校准方法,通过掩模对准传感器和基板对准传感器测量设置在工件台基准版上的基准标记,建立掩模对准传感器与基板对准传感器之间的位置关系,包括离线标定与在线标定,所述离线标定包括采用基板对准传感器对工件台基准版上的基准标记进行位置测量;所述在线标定包括离轴基线更新和同轴基线更新,所述离轴基线更新包括通过该基准标记上的第一标记对基板对准传感器进行位置标定;所述同轴基线更新包括通过该基准标记上的第二标记对掩膜对准传感器进行位置标定。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海微电子装备有限公司,未经上海微电子装备有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410171812.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top