[发明专利]日盲紫外像增强器带外相对光谱响应度测试装置及方法

摘要

日盲紫外像增强器带外相对光谱响应度测试装置及方法，涉及日盲紫外像增强器参数测试技术领域，解决了由于日盲紫外像增强器带外响应极低导致其相对光谱响应度无法准确测试的问题，包括：光源；暗箱，位于所述光源前方，侧面设置有入光口；可伸缩屏蔽罩，位于所述入光口和所述光源之间，用来屏蔽所述光源附近的环境杂散光进入暗箱；陷阱探测器，位于所述暗箱内部，用于探测所述光源的输出光电流；屏蔽盒，位于所述暗箱内部，用于盛载待测像增强器，对待测像增强器进行有效电磁屏蔽；静电计，连接像增强器输出信号端，用于探测所述光源通过所述待测像增强器的输出电信号，本发明结构简单，可操作性强。

主权项

日盲紫外像增强器带外相对光谱响应度测试装置，其特征是，包括：光源(1)；暗箱(2)，位于所述光源(1)的前方，所述暗箱的侧面设置有一个入光口；可伸缩屏蔽罩(3)，位于所述入光口和所述光源(1)之间；陷阱探测器(4)，位于暗箱(2)内部，用于探测光源(1)的输出光电流；屏蔽盒(6)，位于所述暗箱(2)内部，用于盛载待测像增强器(5)，对所述待测像增强器(5)进行有效电磁屏蔽；静电计(10)，连接所述待测像增强器(5)的输出信号端，用于探测所述光源(1)通过待测像增强器(5)后的输出电信号；采用所述日盲紫外像增强器带外相对光谱响应度测试装置的具体测试方法为：步骤一、关闭暗箱(2)的入光口，使陷阱探测器(4)上无光照进入，测量所述陷阱探测器(4)的输出电信号作为暗电流噪声，将所述陷阱探测器(4)调零，对所述暗电流噪声进行补偿；打开暗箱(2)的入光口，调整陷阱探测器(4)对准暗箱(2)的入光口，所述陷阱探测器(4)探测所述光源(1)的输出光电流I₀(λ)；步骤二、关闭所述暗箱(2)的入光口，使待测日盲紫外像增强器(5)上无光照进入，由所述静电计(10)测量待测像增强器(5)的输出电信号，即为暗电流噪声，将获得的暗电流噪声设定为静电计(10)的参考值；步骤三、打开暗箱(2)的入光口，调节精密位移平台(7)使所述待测日盲紫外像增强器对准所述暗箱(2)的入光口，由所述静电计(10)测量光源(1)通过所述待测日盲紫外像增强器(5)的输出电流信号I_t(λ)；步骤四、根据步骤一和步骤三获得的电流信号，计算像增强器带外相对光谱响应度：式中，σ₀为陷阱探测器的相对光谱响应度。