[发明专利]电光相位调制器调制系数的测量方法

摘要

本发明公开了电光相位调制器调制系数的测量方法，涉及光电子技术领域，本发明为了解决相位调制信号在光电探测器上无法直接检测以及无法避免PM‑IM和FM‑IM的转换中的非线性过程的问题，本发明采用光纤干涉仪作为测量装置，光纤干涉仪由分束器、待测电光相位调制器、声光移频器、辅助电光相位调制器和合束器构成，其中待测电光相位调制器置于光纤干涉仪的一干涉臂上，声光移频器和辅助电光相位调制器放置在另一干涉臂上；三个器件上分别加载不同频率的正弦信号；本发明通过设置所加载正弦信号的频率关系消除了光电探测器的频率响应，实现了自校准测量，提高了测量电光相位调制器调制系数的准确性，具有很好的应用价值。

主权项

电光相位调制器调制系数的测量方法，其特征在于该调制系数的测量方法步骤如下：(1)构建光纤干涉仪，该光纤干涉仪包括分束器、待测电光相位调制器、声光移频器、辅助电光相位调制器、合束器，其中待测电光相位调制器放置于光纤干涉仪的一个干涉臂上，声光移频器和辅助电光相位调制器串行连接放置在光纤干涉仪的另一个干涉臂上；(2)设置激光器的工作波长为λ0，其对应频率为f0，在待测电光相位调制器的电极上加载频率为f1的正弦信号，在辅助电光相位调制器的电极上加载频率为f2的正弦信号，声光移频器的电极上加载频率为fs的正弦信号，所加载正弦信号的频率f1和f2满足1.9f2≤f1≤2.1f2；(3)通过光电探测器和采样电路记录光纤干涉仪在(2)步骤中三种正弦信号作用下的输出信号，记录频率为f1‑f2+fs、f1‑f2‑fs、f2+fs、f2‑fs的幅度，分别记为i(f1‑f2+fs)、i(f1‑f2‑fs)、i(f2+fs)、i(f2‑fs)；(4)按照如下公式中的任意一个计算得到待测电光相位调制器的调制系数值，或或或其中J1为一阶一类贝塞尔函数，J0为零阶一类贝塞尔函数，公式选择依据为公式的分子和分母对应频率间隔最小者；(5)改变加载频率f1与f2的大小，重复步骤(2)、(3)、(4)、从而得到待测电光相位调制器在不同f1下的调制系数；(6)改变激光器的工作波长λ0，对应频率为f0的大小，重复步骤(2)、(3)、(4)、(5)，从而得到待测电光相位调制器在不同工作波长λ0时，不同调制频率f1下的调制系数。