[发明专利]一种通过Ga离子轰击对石墨烯掺杂改性的方法有效

专利信息
申请号: 201410181561.6 申请日: 2014-05-04
公开(公告)号: CN103996616B 公开(公告)日: 2017-09-26
发明(设计)人: 王权;邵盈;任乃飞 申请(专利权)人: 江苏大学
主分类号: H01L21/263 分类号: H01L21/263
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司32200 代理人: 楼高潮
地址: 212013 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开一种通过Ga离子轰击对石墨烯掺杂改性的方法,采用聚焦离子束系统,将样品放在位于密闭腔室中的样品台上,先按照样品的标记位置,移动样品的目标区域至透镜系统正下方,用气体注入系统对密闭腔室抽真空;再用探测器探测样品的位置,将样品此时的位置信号经扫描单元、图形发生器传给计算机;通过计算机和图形发生器在样品上绘制出需要的离子轰击区域;最后通过计算机设置聚焦离子束系统的工作参数对石墨烯进行离子轰击,轰击时,Ga离子源受热液化,在外加电场的作用下形成离子流,离子流在偏转系统的作用下到达样品表面进行离子轰击;在保持石墨烯本征二维结构不变的同时赋予了石墨烯新的电学特性,改变其电学性能的效果明显。
搜索关键词: 一种 通过 ga 离子 轰击 石墨 掺杂 改性 方法
【主权项】:
一种通过Ga离子轰击对石墨烯掺杂改性的方法,采用由Ga离子源、外加电场、透镜系统、偏转系统、气体注入系统、计算机组成的聚焦离子束系统,将样品放在位于密闭腔室中的样品台上,其特征是具有以下步骤:(1)采用机械剥离法制备石墨烯薄膜并转移到二氧化硅氧化层的单晶硅衬底上作为样品,按照样品的标记位置,移动样品的目标区域至透镜系统正下方,用气体注入系统对密闭腔室抽真空;(2)用探测器探测样品的位置,将样品此时的位置信号经扫描单元、图形发生器传给计算机;通过计算机和图形发生器在样品上绘制出需要的离子轰击区域;(3)通过计算机设置聚焦离子束系统的工作参数对石墨烯进行离子轰击,轰击时,Ga离子源受热液化,在外加电场的作用下形成离子流,离子流在偏转系统的作用下到达样品表面进行离子轰击,改变轰击时间对石墨烯进行不同程度的改性。
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