[发明专利]金属材料X-射线相分析方法

摘要

本发明涉及金属材料X-射线相分析方法，包括以下步骤：分别对试样和相同成分标样进行衍射强度的旋转测量、对无织构标样进行衍射强度的旋转或非旋转测量，得到I_i(hkl)值、I_j(hkl)值和I_r(hkl)值；对衍射强度进行织构修正，分别计算出试样、相同成分标样的{hkl}轴密度P_i(hkl)、P_j(hkl)，进一步分别计算出试样、相同成分标样的经过织构修正的{hkl}晶粒的衍射强度I_i(hkl)(c)、I_j(hkl)(c)；将I_i(hkl)(c)、I_j(hkl)(c)代入公式X_i＝I_i(hkl)(c)/I_j(hkl)(c)X_j，计算出试样的相含量。本发明改衍射强度的固定测量方式为旋转测量方式，并对衍射强度进行织构修正，有效地消除大晶粒效应造成的强度测量误差，从而大大提高了X-射线相分析精度。

主权项

金属材料X‑射线相分析方法，包括以下步骤：(1)测量衍射强度：(1.1.1)将试样安放在旋转试样测量附件上，(1.1.2)将测量附件按常规方法固定在测角仪轴心平面中，(1.1.3)用θ/2θ联动扫描方式对试样进行旋转强度测量，测出待测相的若干个{hkl}晶面的I_i(hkl)值，(1.2.1)将相同成分标样安放在旋转试样测量附件上，(1.2.2)将测量附件按常规方法固定在测角仪轴心平面中，(1.2.3)用θ/2θ联动扫描方式对相同成分标样进行旋转强度测量，测出待测相的若干个{hkl}晶面的I_j(hkl)值,(1.3.1)将无织构标样安放在测量附件上，(1.3.2)将测量附件按常规方法固定在测角仪轴心平面中，(1.3.3)用θ/2θ联动扫描方式对无织构标样进行旋转或非旋转强度测量，测出待测相的若干个{hkl}晶面的I_r(hkl)值；(2)对衍射强度进行织构修正：(2.1)将I_i(hkl)值和I_r(hkl)值代入公式P(hkl)＝I_(hkl)/I_r(hkl)×∑N_(hkl)/∑(N_(hkl)×I_(hkl)/I_r(hkl)),式中N为晶面的多重性因数，计算出试样的{hkl}轴密度P_i(hkl)，(2.2)将I_j(hkl)值和I_r(hkl)值代入公式P(hkl)＝I_(hkl)/I_r(hkl)×∑N_(hkl)/∑(N_(hkl)×I_(hkl)/I_r(hkl)),式中N为晶面的多重性因数，计算出相同成分标样的{hkl}轴密度P_j(hkl)，(2.3)将P_i(hkl)代入公式I_(hkl)(c)＝I_(hkl)/P_(hkl)，对试样的衍射强度进行织构修正，得到经过旋转测量和织构修正的{hkl}晶粒的衍射强度I_i(hkl)(c)，(2.4)将P_j(hkl)代入公式I_(hkl)(c)＝I_(hkl)/P_(hkl)，对相同成分标样的衍射强度进行织构修正，得到经过测量和织构修正的{hkl}晶粒的衍射强度I_j(hkl)(c)；(3)计算相含量将I_i(hkl)(c)、I_j(hkl)(c)代入公式X_i＝I_i(hkl)(c)/I_j(hkl)(c)X_j，式中，X_j为已知标样待测相的含量，计算出试样的相含量。