[发明专利]处理偏振敏感光学相干断层成像的偏振数据的方法和设备有效
| 申请号： | 201410184437.5 | 申请日： | 2014-05-04 |
| 公开（公告）号： | CN104134199B | 公开（公告）日： | 2017-09-01 |
| 发明（设计）人： | 佐藤真;杉田充朗;斯蒂芬·邹特;迈克尔·比尔;克里斯多夫·息茨博格 | 申请（专利权）人： | 佳能株式会社 |
| 主分类号： | G06T5/50 | 分类号： | G06T5/50 |
| 代理公司： | 北京魏启学律师事务所11398 | 代理人： | 魏启学 |
| 地址： | 日本东京都大*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于处理偏振敏感光学相干断层成像的偏振数据的方法和设备。用于处理偏振数据的该方法包括以下步骤获取多组偏振数据项；将偏振数据项转换成包括振幅和相位的参数的表示；以及对转换后的偏振数据项进行平均。 | ||
| 搜索关键词： | 处理 偏振 敏感 光学 相干 断层 成像 数据 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种用于处理偏振敏感光学相干断层成像的偏振数据的方法，包括以下步骤：检测步骤，用于对通过使用偏振分束器将合成光进行分割而得到的光进行检测，其中，所述合成光是通过将来自利用测量光所照射的要测量的试样的返回光与对应于所述测量光的参考光进行合成而得到的；获取步骤，用于获取从被检测的光所获得的多组偏振数据项；转换步骤，用于将所述多组偏振数据项转换成包括与延迟和轴取向有关的信息的矢量形式的表示；平均步骤，用于对以所述表示示出的多组转换后的偏振数据项进行平均，以得到多组平均后的偏振数据项；计算步骤，用于从所述多组平均后的偏振数据项计算延迟和轴取向；生成步骤，用于通过使用所计算出的延迟和轴取向来生成不同类型的偏振敏感B扫描图像；以及控制步骤，用于使得显示单元显示所生成的偏振敏感B扫描图像中的至少之一。
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