[发明专利]绝缘寿命推定方法及绝缘寿命推定装置在审
| 申请号： | 201410188857.0 | 申请日： | 2014-05-06 |
| 公开（公告）号： | CN104237747A | 公开（公告）日： | 2014-12-24 |
| 发明（设计）人： | 角阳介 | 申请（专利权）人： | 日立金属株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/12 | 分类号： | G01R31/12 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 曾贤伟;曹鑫 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种绝缘寿命推定方法及绝缘寿命推定装置。针对发生局部放电的待测试样，能够考虑施加电压波形条件的影响来推定绝缘寿命，由此实现绝缘寿命推定的可靠性提高和高效率化等。对具备导体和绝缘体而构成的试样的绝缘寿命进行推定的绝缘寿命推定方法具备：信息获取步骤(S2)，其获取试样中的局部放电的放电电荷量与试样的绝缘破坏的相关信息；电荷量检测步骤(S3)，其在推定所述绝缘寿命的阶段使所述试样发生局部放电，检测该局部放电的放电电荷量；以及寿命推定步骤(S4)，其基于信息获取步骤(S2)中得到的相关信息，根据电荷量检测步骤(S3)中检测出的放电电荷量求出试样到绝缘破坏为止的时间，作为绝缘寿命的推定结果。 | ||
| 搜索关键词： | 绝缘 寿命 推定 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种绝缘寿命推定方法，对具备导体和绝缘体而构成的试样的绝缘寿命进行推定，该绝缘寿命推定方法的特征在于，具备：信息获取步骤，其获取所述试样中的局部放电的放电电荷量与该试样的绝缘破坏的相关信息；电荷量检测步骤，其在推定所述绝缘寿命的阶段使所述试样发生局部放电，检测该局部放电的放电电荷量；以及寿命推定步骤，其基于所述信息获取步骤中得到的相关信息，根据所述电荷量检测步骤中检测出的放电电荷量求出所述试样到绝缘破坏为止的时间，作为所述绝缘寿命的推定结果。
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