[发明专利]一种质量校准物离子化与引入装置在审
| 申请号： | 201410192978.2 | 申请日： | 2014-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN105097412A | 公开（公告）日： | 2015-11-25 |
| 发明（设计）人： | 王睿;张小强;沈嘉祺;金峤;孙文剑 | 申请（专利权）人： | 岛津分析技术研发（上海）有限公司 |
| 主分类号： | H01J49/06 | 分类号： | H01J49/06;H01J49/10 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人： | 余明伟 |
| 地址： | 201201 上海市浦东新*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供的一种用于质谱仪的质量校准物离子化与引入装置，包括：用于质量校准物离子化的至少一第一离子源；用于分析物离子化的至少一第二离子源;对应于每个离子源的独立真空接口装置；以及至少一离子导引区域，离子导引区域用于导引质量校准物离子及分析物离子进入与离子导引区域连接的质量检测分析区域；其中，第一离子源处于低于大气压的环境，第二离子源处于大气压环境。低压环境相比大气压环境更有效提升离子化效率与离子传输效率；保证质量校准物的质谱信号强度且减少其用量，以减少质量校准物对质谱后级的污染，质量校准物和分析物各自独立的离子源和真空接口装置也避免质量校准物对分析物的干扰及对分析物真空接口装置的污染。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 质量 校准 离子化 引入 装置 | ||
【主权项】：
一种质量校准物离子化与引入装置，其特征在于，包括：用于质量校准物离子化的至少一第一离子源；用于分析物离子化的至少一第二离子源；用于每个离子源的独立真空接口装置；以及至少一离子导引区域，所述离子导引区域用于导引所述质量校准物离子及分析物离子进入与所述离子导引区域连接的质量检测分析区域；其中，所述第一离子源处于低于大气压的环境，所述第二离子源处于大气压环境；其中，所述第一离子源及第二离子源分别通过所述独立的真空接口装置将质量校准物和分析物引入离子导引区域。
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