[发明专利]具有合适原子分布的I‑III‑VI2化合物吸收件的光伏器件制造方法有效
申请号: | 201410193381.X | 申请日: | 2014-05-09 |
公开(公告)号: | CN104882511B | 公开(公告)日: | 2017-02-15 |
发明(设计)人: | 黄乾燿 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L31/032 | 分类号: | H01L31/032;H01L21/02 |
代理公司: | 北京德恒律治知识产权代理有限公司11409 | 代理人: | 章社杲,孙征 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 一种形成光伏器件的吸收层的方法,其包括在衬底的之上形成金属前体层;以及将含硫前体沉积到金属前体层上。该方法还包括在沉积含硫前体的步骤之后将含硒前体沉积到金属前体层上。本发明还提供了具有合适原子分布的I‑III‑VI2化合物吸收件的光伏器件制造方法。 | ||
搜索关键词: | 具有 合适 原子 分布 iii vi2 化合物 吸收 器件 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种用于形成光伏器件的吸收层的方法,包括:在衬底的之上形成金属前体层;在300℃~550℃范围内的第一温度下,将含硫前体沉积到所述金属前体层上;以及在沉积所述含硫前体的步骤之后,将含硒前体沉积到所述金属前体层上,其中,将含硒前体沉积到所述金属前体层上的步骤包括:在25℃~350℃范围内的第二温度下沉积所述含硒前体;以及在不同于所述第二温度的400℃~600℃范围内的第三温度下沉积所述含硒前体,从而使得所制得的吸收层的底面不包括硫,并且所述吸收层的上表面上的硫与硒和硫的总量的原子比例介于0.1至1.0的范围内。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
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