[发明专利]AlGaN-GaN异质结欧姆接触制作方法无效
申请号: | 201410193498.8 | 申请日: | 2014-05-08 |
公开(公告)号: | CN103972069A | 公开(公告)日: | 2014-08-06 |
发明(设计)人: | 王冲;钟仁骏;陈冲;何云龙;郑雪峰;马晓华;郝跃 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | H01L21/28 | 分类号: | H01L21/28 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 王品华;朱红星 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种AlGaN-GaN异质结欧姆接触制作方法。主要解决现有技术接触电阻大、工艺复杂、成本高的问题。其制作过程为:1)在铝镓氮/镓氮异质结表面进行光刻,得到欧姆电极区上带有若干通孔的刻蚀掩膜,这些通孔露出的面积之和为欧姆电极面积的15%~45%;2)在掩膜通孔露出的铝镓氮材料上进行深度为5~15nm的刻蚀挖孔;3)在挖有孔的源、漏区铝镓氮/镓氮材料上淀积钛/铝/镍/金多层金属;4)对淀积电极金属进行800~870℃退火,形成源、漏欧姆接触电极。本发明具有工艺简单易控制、欧姆接触电阻低的优点,可用于制作高工作效率、高增益的铝镓氮/镓氮异质结高频大功率高电子器件。 | ||
搜索关键词: | algan gan 异质结 欧姆 接触 制作方法 | ||
【主权项】:
一种AlGaN‑GaN异质结上欧姆接触制作方法,包括如下步骤:(1)对AlGaN/GaN材料进行清洗;(2)在清洗后的AlGaN/GaN材料表面的源、漏欧姆电极区进行光刻,制作带有很多通孔的光刻胶掩膜,这些通孔的面积之和为欧姆接触电极总面积的15%~45%;通孔中露出AlGaN材料;(3)利用干法刻蚀对光刻胶掩膜通孔中露出的AlGaN材料进行刻蚀,得到源、漏欧姆电极区挖有很多孔的AlGaN材料,挖孔深度为5~15nm;刻蚀完成后去除光刻胶掩膜;(4)在挖孔的整个源、漏欧姆电极区域的AlGaN材料之上,淀积Ti/Al/Ni/Au多层金属,并进行800~870℃退火30~60s,形成源、漏欧姆接触电极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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