[发明专利]一种干式颗粒粒度测量装置有效
| 申请号： | 201410195411.0 | 申请日： | 2014-05-09 |
| 公开（公告）号： | CN103954539A | 公开（公告）日： | 2014-07-30 |
| 发明（设计）人： | 贺亚峰;冯帆;张永亮;宫卫华;董丽芳 | 申请（专利权）人： | 河北大学 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 石家庄国域专利商标事务所有限公司 13112 | 代理人： | 苏艳肃 |
| 地址： | 071002 *** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种干式颗粒粒度测量装置，该测量装置包括光源系统、悬浮系统、探测系统和计算机处理系统；所述悬浮系统包括真空室，在所述真空室内水平设置有上下两个极板，所述上极板接地，所述下极板连接射频电源的功率电极，所述射频电源的另一电极接地；在所述上极板与所述下极板之间设置有用于盛放待测颗粒的颗粒池，所述颗粒池连接穿出所述真空室的振动杆。采用本发明测量颗粒粒度时操作简单、方便，测量迅速、准确，为实验室及工业领域的快速分析检测提供了一个解决方案。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 颗粒 粒度 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种干式颗粒粒度测量装置，包括光源系统、悬浮系统、探测系统和计算机处理系统；其特征是，所述悬浮系统包括真空室，在所述真空室内水平设置有上下两个极板，所述上极板接地，所述下极板连接射频电源的功率电极，所述射频电源的另一电极接地；在所述上极板与所述下极板之间设置有用于盛放待测颗粒的颗粒池，所述颗粒池连接穿出所述真空室的振动杆。
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