[发明专利]一种光学薄膜激光毁伤的识别装置及识别方法有效
申请号: | 201410200783.8 | 申请日: | 2014-05-13 |
公开(公告)号: | CN103954680A | 公开(公告)日: | 2014-07-30 |
发明(设计)人: | 苏俊宏;徐均琪;惠迎雪;梁海锋;杨利红;李建超 | 申请(专利权)人: | 西安工业大学 |
主分类号: | G01N27/64 | 分类号: | G01N27/64 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 蔡和平 |
地址: | 710021 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种光学薄膜激光毁伤的识别方法及装置,通过采集质荷比分布,用计算机软件进行质谱分析与元素判别,就能确定所毁伤材料中包含的元素种类,从而准确、在线、快速判别出薄膜是否发生损伤。采用该方法的装置由测试样品台、质荷比采集系统及计算机运算系统组成。本发明能够实现在线、实时、快速、准确判别薄膜或光学元件在强激光下的毁伤状态。将该方法应用于激光损伤阈值测试中,可实现测试系统的集成化、自动化、智能化。 | ||
搜索关键词: | 一种 光学薄膜 激光 毁伤 识别 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种光学薄膜激光毁伤的识别装置,其特征在于:包括激光器(1)以及测试样品(2);测试样品(2)安装于测试样品台(9)上,激光器(1)正对测试样品(2)的待测表面,测试样品台(9)的一侧设置有用于加速经激光辐照样品所溅射出的微粒,并形成准直粒子束的加速电极(4),且测试样品台(9)与加速电极(4)之间还设置有用于提高离子含量的电子源(3);加速电极(4)的后端设置使离子发生偏转的磁场(5),与加速电极(4)平行的一侧设置有用于接收不同偏转半径的离子的若干接收电极(6);接收电极(6)的输出端均连接到A/D转换器(7)的信号输入端上,A/D转换器(7)的信号输出端连接有用于生成溅射粒子质荷比谱图的计算机(8)。
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