[发明专利]测定地球化学勘查样品中银硼锡的方法有效
申请号: | 201410205458.0 | 申请日: | 2014-05-15 |
公开(公告)号: | CN103983583A | 公开(公告)日: | 2014-08-13 |
发明(设计)人: | 刘成光;王卫国;章志仁;陈莲红 | 申请(专利权)人: | 四川省地质矿产勘查开发局成都综合岩矿测试中心 |
主分类号: | G01N21/25 | 分类号: | G01N21/25 |
代理公司: | 成都立信专利事务所有限公司 51100 | 代理人: | 冯忠亮 |
地址: | 610081 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明为测定地球化学勘查样品中银硼锡的方法,解决己有方法同时测定土壤硼、锡和银三个元素的准确度和精密度均不太好的问题。仪器设备及试剂如下:光栅摄谱仪,与电脑联机自动测光仪,电极:上电极:圆锥形石墨电极,下电极:外径6mm,下电极带环杯形石墨电极:环高2mm、环外径6mm,孔内径4mm、孔深12.5mm,杯高13mm、杯外径5.2mm,颈高4.0mm、颈径3.5mm,光谱感光板;玛瑙研钵,缓冲剂的组成质量分数为:mKI:mK2S2O7:mSiO2:mC:mZnO=24:20:48:7:1,另加入质量分数0.015%的CdO,称取试料,称取0.0500g缓冲剂于坩埚中,搅拌1分钟,装入电极中,压紧,摄谱,显影与定影,自动测光议译谱,分析/内标线对:Ag328.07nm/Cd326.1nm、B249.7nm/Si249.4nm、Sn317.51nm/Cd326.1nm,自动拟合标准曲线,自动计算样品中单个元素的含量。 | ||
搜索关键词: | 测定 地球化学 勘查 样品 中银硼锡 方法 | ||
【主权项】:
测定地球化学勘查样品中银硼锡的方法,其特征在于仪器设备及试剂如下:光栅摄谱仪;与电脑联机自动测光仪;电极:上电极:直径6mm,高100 mm的圆锥形石墨电极,下电极带环杯形石墨电极:环高2mm、环外径6mm,孔内径4mm、孔深12.5mm,杯高13mm、杯外径5.2mm,颈高4.0mm、颈径3.5 mm, 光谱感光板;玛瑙研钵,缓冲剂的组成质量分数为:mKI∶mK2S2O7∶mSiO2∶mC∶mZnO=24、20∶48∶7∶1,另加入质量分数0.015%的CdO,操作流程如下:称取粒度小于74μm的试料0.0700g,精确至0.0001g,称取0.0500g缓冲剂于坩埚中,搅拌1分钟,装入电极中,压紧,摄谱,显影与定影,自动测光议译谱,分析/内标线对:Ag328.07 nm/Cd326.1 nm、B249.7 nm/Si 249.4 nm、Sn317.51 nm/Cd326.1 nm,选择狭缝宽度0.2 mm,高度12 mm的P标尺,测量线对的谱线黑度,自动扣除相应的背景黑度,用△P—logC,P为黑度,C为含量,自动拟合标准曲线,自动计算样品中单个元素的含量。
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