[发明专利]一种集成电路自动测试系统和测试方法有效
| 申请号： | 201410215762.3 | 申请日： | 2014-05-21 |
| 公开（公告）号： | CN104198910A | 公开（公告）日： | 2014-12-10 |
| 发明（设计）人： | 朱芳;黄雄飞;叶宝玉;魏娜 | 申请（专利权）人： | 广州民航职业技术学院 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 无 | 代理人： | 无 |
| 地址： | 510403 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种集成电路自动测试系统，其特征在于它包括主控计算机，USB接口电路，单片机，逻辑控制电路，DDS电路，整形电路，电源，多路模拟开关，芯片插座；主控计算机与USB接口电路通过USB连接线相连，单片机分别与逻辑控制电路、USB接口电路相连，DDS电路分别与逻辑控制电路和多路模拟开关相连，多路模拟开关分别与DDS电路、电源、整形电路、芯片插座、逻辑控制电路和其它模拟开关相连。它克服了现有的测试系统通用性差的不足。本发明具有测试方便、通用性强、测试速度快的优点。本发明还同时公开了一种集成电路自动测试方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 自动 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种集成电路自动测试系统，其特征在于它包括主控计算机，USB接口电路，单片机，逻辑控制电路，DDS电路，整形电路，电源，多路模拟开关，芯片插座；主控计算机与USB接口电路通过USB连接线相连，单片机分别与逻辑控制电路、USB接口电路相连，DDS电路分别与逻辑控制电路和多路模拟开关相连，多路模拟开关分别与DDS电路、电源、整形电路、芯片插座、逻辑控制电路和其它模拟开关相连。
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