[发明专利]采用倾斜并旋转试样测量反极图的方法

摘要

本发明公开了一种采用倾斜并旋转试样测量反极图的方法，包括以下步骤确定试样及标样的衍射峰峰位置及峰左右两边的背底位置；试样和探测器均置于初始位置；获得试样旋转时在不同倾斜角度下各衍射峰的强度及其背底强度，计算衍射峰的净强度，获得标样的衍射峰的净强度，计算试样与标样的不同倾角下的衍射峰净强度的比值，并将所有的比值取平均值作为该衍射峰的极密度值；将各个衍射峰的极密度值标在反极图上，完成测量过程。本发明测反极图时，通过试样倾斜并以试样法线为旋转轴旋转360°，让所有取向的晶粒对反极图中极密度都有贡献。本发明所测结果与材料性能有更好的对应关系，科学性更强。

主权项

一种采用倾斜并旋转试样测量反极图的方法，其特征在于，包括以下步骤：1)各个衍射峰峰位置的确定：采取对称衍射方法获得一张试样及标样的衍射图谱，来确定若干个{hkl}衍射峰峰位置，即2θ位置，及衍射峰左右两边的背底位置；2)把试样放在X‑射线衍射仪测量装置的1θ轴上，探测器置于2θ轴上，首先让1θ轴和2θ轴均处于0°初始位置；3)让1θ轴和2θ轴按1:2的角速度之比，将探测器依次旋转到步骤1)中所确定的衍射峰峰位置，探测器每到达一个衍射峰峰位置，探测器停止，让1θ轴上的试样按照步进速度每步0.1～1°从‑10°位置顺时针旋转到+10°位置，1θ轴每旋转0.1～1°后停下，然后让试样以试样法线为旋转轴旋转360°，同时计算机记录1θ轴每一步进下且当试样旋转360°的过程中探测器上衍射峰的X‑射线的强度I0试样；4)让1θ轴和2θ轴按1:2的角速度之比，将探测器依次旋转到步骤1)中所确定的衍射峰左右两边的背底位置，探测器每到达一个背底位置，探测器停止，让1θ轴上的试样按照步进速度每步0.1～1°从‑10°位置顺时针旋转到+10°位置，1θ轴每旋转0.1～1°后停下，然后让试样以试样法线为旋转轴旋转360°，同时计算机记录1θ轴上每一步进下且试样以试样法线为旋转轴旋转360°的过程中探测器上的X‑射线的强度I试样背底左和I试样背底右，将I试样背底左和I试样背底右取平均值即为1θ轴每一步进下且当试样旋转360°的过程中探测器上衍射峰的背底强度I试样背底；5)计算出试样旋转时在不同步进位置下{hkl}衍射峰的净强度I试样hkl＝I0试样‑I试样背底；6)将试样从1θ轴上卸下，放入标样，按步骤2)～5)的测量步骤测定标样旋转时在不同步进位置下{hkl}衍射峰的净强度的I标样hkl；7)计算出试样与标样旋转时在不同步进位置下的衍射峰净强度的比值I试样hkl/I标样hkl，并将所有的比值取平均值即为该{hkl}衍射峰的极密度值；同理计算出其它{hkl}衍射峰的极密度值；8)将步骤7)中得到的各个{hkl}衍射峰的极密度值标在试样的反极图上，完成测量过程。