[发明专利]一种超高频阅读器对多标签识别性能测试方法

摘要

本发明公开了一种超高频阅读器对多标签识别性能测试方法，具体将时隙值对应成模拟标签，存储空间中不必存放每个标签的数据内容，且每个标签不需要单独的满足国军标的协议状态处理，极大的节约了存储空间等资源的消耗，标签数目的大小直接取决于时隙值存储器空间的大小，而一个标签时隙计数值只占用存储器15位的空间，因此可以模拟生成少则百个多则上千个模拟标签。可便捷、灵活的测试阅读器对多标签的识别能力。

主权项

一种超高频阅读器对多标签识别性能测试方法，具体包括以下步骤：S1.初始化配置：配置模拟标签个数、模拟标签盘存标记、并将时隙值存储器中每个标签的时隙值置为0；具体为：配置模拟标签数目寄存器为M个，初始化模拟标签盘存标记，即，将M个盘存标记置1bit零写入盘存标记存储区；初始化时隙值，即，将M个时隙值每个置15bit零写入时隙值存储器；S2.阅读器命令解析：按照超高频阅读器协议中命令代码解析阅读器所发送的命令类型、命令参数；所述的命令类型具体包括启动查询命令、重复查询命令、分裂命令、分散命令、收缩命令；S3.盘点标志是否匹配：将盘点标记存储器中每个标签的盘点标记与启动查询命令中Target数据进行匹配，如果相等则进行步骤S4操作，否则返回到步骤S2；S4.根据阅读器命令生成相应时隙值：根据不同的阅读器命令类型，标签模拟器产生与之相应的时隙值；步骤S4根据阅读器命令生成相应时隙值具体为：标签模拟器解析到启动查询命令后，将M个时隙值置15bit零；标签模拟器解析到重复查询命令后，如果时隙值存储器中的时隙值为0，则将时隙值置7FFF，如果时隙值不为0，则时隙值减1；标签模拟器解析到分裂位置为00b的分裂命令后，如果时隙值存储器中的时隙值为0，则生成1位随机数，将该随机数写入时隙值；如果时隙值不为0，则将时隙值加1；标签模拟器解析到分裂位置为01b的分裂命令后，如果时隙值存储器中的时隙值为1，则生成1位随机数，将该随机数写入时隙值；如果时隙值不为1，则时隙值保持不变；标签模拟器解析到分散命令后，生成1位随机数，时隙值乘以2再加上该随机数；标签模拟器解析到收缩命令后，时隙值除以2；S5.时隙值写入时隙值存储器，并将时隙值等于0的计数：将步骤S4中产生的时隙值写入标签时隙值存储器中，同时判断时隙值为零的个数；S6.发送有无碰撞的句柄响应：如果在S5中产生的时隙值为零的个数为1，则标签模拟器发送无碰撞的句柄响应；如果时隙值为零的个数不等于1，则标签模拟器发送有碰撞的句柄响应，且在该响应发送完成后返回到步骤S2；S7.ACK命令解析：按照超高频阅读器协议中命令代码解析ACK命令；S8.T1超时则发送编码响应：标签模拟器解析到阅读器发送的ACK命令开始计时，计时满T1时则发送编码响应，其中，T1为预先设定的阈值；S9.编码响应发送完毕后反转标签模拟器的盘点标记：反转已识别的标签盘点标记，并将盘点标记值写入盘点标记存储器中，在编码响应发送完毕后返回到步骤S2。