[发明专利]基于巡检自愈的FPGA空间应用抗辐射加固方法

摘要

本发明公开一种基于巡检自愈的FPGA空间应用抗辐射加固方法，用于FPGA及与之相连的主控端构成的FPGA空间应用系统，包括如下步骤主控端根据通道状态信息，判断通道状态，如处于失锁状态，则转至失锁处置步骤，如处于持续锁定状态，则转至持续锁定处置步骤，如处于跳变状态，则转至跳变处置步骤；以及主控端发起指令对FPGA进行重新加载，加载完成后返回通道状态检测步骤。本发明的抗辐射加固方法，能自动解除FPGA空间应用中任何通道由于单粒子效应而出现“失锁”的现象，使基于FPGA的扩频应答机在空间辐照的影响下长时间自主无故障运行。

主权项

一种基于巡检自愈的FPGA空间应用抗辐射加固方法，用于FPGA及与之相连的主控端构成的FPGA空间应用系统，其特征在于，包括如下步骤：(10)通道状态检测：主控端根据通道状态信息，判断通道状态，如处于失锁状态，则转至(20)失锁处置步骤，如处于持续锁定状态，则转至(30)持续锁定处置步骤，如处于跳变状态，则转至(40)跳变处置步骤；(20)失锁处置：对失锁通道进行自检，以确定该通道功能是否正常，如正常，则返回(10)通道状态检测步骤，否则，转至(50)重新加载步骤；(30)持续锁定处置：将持续锁定通道的持续锁定时间与持续锁定时间门限比较，当锁定超时后，转至(50)重新加载步骤；(40)跳变处置：对跳变通道进行跳变沿检测，当在计数检测时间内跳变次数超过计数预设值时，则判定该通道异常，转至(50)重新加载步骤，否则，返回(10)通道状态检测步骤；(50)重新加载：主控端发出指令，对FPGA进行重新加载，加载完成后返回(10)通道状态检测步骤。