[发明专利]MALDI质谱分析用测定基板在审
| 申请号： | 201410234955.3 | 申请日： | 2014-05-29 |
| 公开（公告）号： | CN104217917A | 公开（公告）日： | 2014-12-17 |
| 发明（设计）人： | 岛田崇史;青木智景;佐藤孝明;中谷将也;叶山雅昭 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所;松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | H01J49/04 | 分类号： | H01J49/04 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇;李茂家 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及MALDI质谱分析用测定基板。提供在MALDI质谱分析中能够将由测定对象物质、基质的不均匀性导致的检测精度的降低抑制到最低限度的测定基板。MALDI质谱分析用测定基板(10)由具有上表面的底板(11)和碳片(12)构成，所述碳片(12)由铺设在上述上表面的至少一部分上的、取向方向位于上述上表面的面内的高取向性石墨片形成。高取向性石墨片由于在面内方向上具有高热导率，在与其垂直的方向上具有低热导率，所以利用激光照射而在基质物质中生成的热能通过上述高取向性石墨片迅速沿面内方向传递。由此，在激光照射位置、热能变得均匀，使由基质物质引起的测定对象试样的升华及电离的反应得以均等地进行，从而防止检测精度的降低。 | ||
| 搜索关键词： | maldi 谱分析 测定 | ||
【主权项】：
一种MALDI质谱分析用测定基板，其特征在于，具备：底板，其具有上表面；和高取向性石墨片，其被铺设在所述上表面的至少一部分上，取向方向位于所述上表面的面内。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社岛津制作所;松下电器产业株式会社，未经株式会社岛津制作所;松下电器产业株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410234955.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
