[发明专利]基于并联不对称马赫增德干涉仪的带内光信噪比监测法

摘要

本发明涉及光通信技术领域，具体为一种基于并联不对称马赫增德干涉仪的带内光信噪比监测法。本发明提出一种新的结构，所述结构由一对平行的有着不同光延时值的马赫增德干涉仪组成，实现带内光信噪比监测。本发明保持了基于马赫增德干涉仪的光信噪比监测的优点，即不受色散、偏振模色散和偏振噪声的影响，因此本方案在未来高速光网络应用中易于实现。本发明继承了参考文献[13]中的优点，即不需要去掉噪声来测量信号的相干特性。对比于[13]，通过仿真验证，本发明能通过半导体器件实现集成性，具有巨大的实际应用潜力。本发明公布了一种新型的用并联两个不对称马赫增德干涉仪制作半导体集成器件来监测带内光信噪比的方法。仿真结果显示能在误差小于±0.5dB范围内测量不同码型从10到28dB的光信噪比值。

主权项

基于并联不对称马赫增德干涉仪的带内光信噪比监测法，所述方法分为如下步骤：引入相应待监测的信号源；信号与噪声通过3dB耦合器形成噪声信号；将用作信道滤波器的光带通滤波器插在光信噪比监测方案之前；将滤出的噪声信号送入光信噪比监测方案中计算光信噪比值；提出的光信噪比监测方案是由一个1×3耦合器和三个1×2的3dB耦合器组成的两个并联的马赫增德干涉仪；两并联马赫增德干涉仪延时臂分别设置不同延时值；所述延时值为：延时值一3ps，延时值二10ps；调节两个马赫增德干涉仪共用臂的相位值，使输出功率分别达到最大值和最小值，用终端的功率计记录数据；通过计算得的可见度值和测得的噪声归一化自相关函数值计算出光信噪比；将计算出的光信噪比与光信噪比参考值对照，并评估该监测法的性能。