[发明专利]柔性P掺杂ZnO透明导电氧化物薄膜的制备方法在审
申请号: | 201410241886.9 | 申请日: | 2014-05-30 |
公开(公告)号: | CN103993284A | 公开(公告)日: | 2014-08-20 |
发明(设计)人: | 李玲霞;于仕辉;许丹;董和磊;金雨馨 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35;C23C14/54;C23C14/08 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 张宏祥 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明公开了一种柔性P掺杂ZnO透明导电氧化物薄膜的制备方法,采用固相烧结法制备Zn1-xPxO(x=0.02~0.1)靶材,利用磁控溅射沉积技术,使用Ar和O2作为溅射气体,溅射功率为50~200W,进行沉积得到厚度为200~500mm的PZO薄膜。本发明薄膜的表面平整,结晶良好,在可见光区的光学透过率高(≥85%),制备工艺简单、电学性能优良(电阻率最低可到1.12×10-3,载流子浓度为8.1×1020,载流子迁移率为6.9cm2V-1s-1),具有良好的应用前景,可望成为硬质衬底材料的更新换代产品。 | ||
搜索关键词: | 柔性 掺杂 zno 透明 导电 氧化物 薄膜 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种柔性P掺杂ZnO透明导电氧化物薄膜的制备方法,具有如下步骤:(1)采用固相烧结法制备P掺杂的ZnO靶材即PZO靶材按Zn1‑xPxO,其中x=0.02~0.1对应元素的化学计量比称取ZnO和P2O5粉体,充分混合后压制成型,再放入电炉中于1150℃烧制成PZO陶瓷靶材;(2)将清洁干燥的衬底放入磁控溅射样品台上;(3)将磁控溅射系统的本底真空度抽至1.0×10‑3P以下,然后加热衬底至200℃;(4)在步骤3系统中,使用Ar和O2作为溅射气体。溅射功率为50~200W,进行沉积得到厚度为200~500mm的PZO薄膜。
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