[发明专利]一种芯片错误注入测试方法及装置有效
| 申请号： | 201410242091.X | 申请日： | 2014-05-30 |
| 公开（公告）号： | CN105182207B | 公开（公告）日： | 2020-10-16 |
| 发明（设计）人： | 朱凯;陈少伟;谭锐能;张梦良;王明东 | 申请（专利权）人： | 国民技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 | 代理人： | 薛祥辉 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明属于芯片的测试技术领域，提供了一种芯片错误注入的测试方法及装置。所述方法包括：将测试数据组输入到待检测芯片的存储区中；在待检测芯片运行过程中对其进行错误注入；读取错误注入后的测试数据组，判断所述错误注入后的测试数据组与输入的测试数据组是否相同；若相同，则对所述存储区中的测试数据组进行更改，并将更改后的测试数据组重新输入到待检测芯片的存储区中，以重新进行错误注入测试；若不相同，则记录芯片的告警情况，以计算芯片的漏报率。本发明通过所述对测试数据组进行更改，增加了安全芯片在错误注入后的出错类型，从而提高了对安全芯片的安全性评估的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 错误 注入 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种芯片错误注入测试方法，其特征在于，所述方法包括：将测试数据组输入到待检测芯片的存储区中；在待检测芯片运行过程中对其进行错误注入；读取错误注入后的测试数据组，判断所述错误注入后的测试数据组与输入的测试数据组是否相同；在所述错误注入后的测试数据组与输入的测试数据组不相同时，记录芯片的告警情况，以计算芯片的漏报率。
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