[发明专利]一种提升面阵探头分辨率的检测方法有效
| 申请号： | 201410243103.0 | 申请日： | 2014-06-03 |
| 公开（公告）号： | CN104034802A | 公开（公告）日： | 2014-09-10 |
| 发明（设计）人： | 张瑞 | 申请（专利权）人： | 艾因蒂克检测科技（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01N29/04 | 分类号： | G01N29/04 |
| 代理公司： | 北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙) 11411 | 代理人： | 曾少丽 |
| 地址： | 201803 上海市嘉*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种提升面阵探头分辨率的检测方法，包括如下步骤：步骤一，在超声波面阵探头上具有N个晶片，并且N个所述晶片以面阵的形式排列；步骤二，芯片控制晶片a发射m次脉冲波射向待测工件；步骤三，被所述待测工件反射回来的脉冲波被晶片a和与晶片a相邻的m-1个晶片依次分别接收；步骤四，当所述N个晶片都发射m次脉冲波，并且经所述待测工件反射回来的脉冲波被全部接收；步骤五，重复步骤一至步骤四的过程，直至探伤完毕；步骤六，主机将接收到的脉冲波经分析处理后得出待测工件的缺陷图形，并通过主机上的显示器显示出来。本发明具有大大提高面阵探测仪的分辨率的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 提升 探头 分辨率 检测 方法 | ||
【主权项】：
本发明提供了一种提升面阵探头分辨率的检测方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一，在超声波面阵探头上具有N个晶片，并且N个所述晶片以面阵的形式排列，其中N表示晶片的个数；步骤二，芯片控制晶片a发射m次脉冲波射向待测工件，其中a表示第a个晶片，m表示发射脉冲的次数；步骤三，被所述待测工件反射回来的脉冲波被晶片a和与晶片a相邻的m‑1个晶片依次分别接收；步骤四，所述N个晶片依次都发射m次脉冲波，并且经所述待测工件反射回来的脉冲波被接收；步骤五，重复步骤一至步骤四的过程，直至探伤完毕；步骤六，主机将接收到的脉冲波经分析处理后得出待测工件的缺陷图形，并通过主机上的显示器显示出来。
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