[发明专利]由HY-2卫星反演电离层垂直电离层总电子含量的方法有效
| 申请号： | 201410245386.2 | 申请日： | 2014-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN104298845B | 公开（公告）日： | 2019-01-29 |
| 发明（设计）人： | 王新志;贾军辉;柯福阳;夏安;刘甫 | 申请（专利权）人： | 南京信息工程大学 |
| 主分类号： | G01V3/38 | 分类号： | G01V3/38 |
| 代理公司： | 南京汇盛专利商标事务所(普通合伙) 32238 | 代理人： | 张立荣 |
| 地址： | 210012 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及由HY‑2卫星反演电离层垂直电离层总电子含量的方法，包括1）计算电离层距离改正值并剔除默认值与非负值；2）对提取的电离层距离改正值进行粗差探测；3）对粗差探测后数据进行平滑处理；4）依据平滑结果计算数值点对应的观测时间和经、纬度；5）计算电离层垂直电离层总电子含量值。有益效果为：1）、能够探测海洋区域上空电离层VTEC的分布状况，弥补海洋区域GNSS地面观测站的分布并不均匀。2）、将反演的VTEC在纬度方向按1度间隔分成若干纬度带，有利于数据的对比分析。3）、本方法原理简单，利于编写程序，操作性强，便于实际操作。 | ||
| 搜索关键词： | hy 卫星 反演 电离层 垂直 电子 含量 方法 | ||
【主权项】：
1.由HY‑2卫星反演电离层垂直电离层总电子含量的方法，其特征在于，包括1)计算电离层距离改正值并剔除默认值与非负值；2)对提取的电离层距离改正值进行粗差探测；3)对粗差探测后数据进行平滑处理；4)依据平滑结果计算数值点对应的观测时间和经、纬度；5)根据公式(1)计算电离层垂直电离层总电子含量值；![]()
式中，VTEC表示垂直电离层总电子含量，单位：TECU；dR表示不同频率波段电离层距离改正，单位：mm；f表示电磁波频率，单位：GHZ。
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