[发明专利]导纳型失磁保护装置的校验方法及系统在审

专利信息
申请号: 201410253296.8 申请日: 2014-06-09
公开(公告)号: CN104035030A 公开(公告)日: 2014-09-10
发明(设计)人: 陈寿根;吴冰峰;尹亮;罗裕柯 申请(专利权)人: 中广核工程有限公司;中国广核集团有限公司
主分类号: G01R31/34 分类号: G01R31/34
代理公司: 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 代理人: 蔡晓红
地址: 518023 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明实施例公开了一种导纳型失磁保护装置的校验方法及系统,校验方法利用一个转换模块将校验装置与导纳型失磁保护装置自动匹配,成功实现了利用校验装置自动校验导纳型失磁保护装置的目的。实施本发明的有益效果是:解决了传统校验方法只能手动校验导纳型失磁保护的几个动作点以及无法验证整个导纳定值轨迹的难题;本发明的校验方法验证了整个导纳定值的轨迹,确保发电机失磁后失磁保护可靠动作跳闸,为发电机和电力系统稳定运行提供了有力的保障。
搜索关键词: 导纳 型失磁 保护装置 校验 方法 系统
【主权项】:
一种导纳型失磁保护装置的校验方法,其特征在于,包括以下步骤:S1.转换模块将设计整定的失磁保护导纳标幺值转换成导纳有名值,再将导纳有名值对应的导纳轨迹转换为阻抗平面内的阻抗轨迹;S2.根据所述转换模块提供的阻抗轨迹设置校验装置的试验参数和试验接线以使所述校验装置自动输出电压和电流给导纳型失磁保护装置;S3.所述导纳型失磁保护装置根据输入的电压和电流触发失磁保护动作并向所述校验装置反馈动作点阻抗值;S4.所述校验装置记录所接收到的动作点阻抗值并在坐标平面内生成动作点阻抗轨迹。
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