[发明专利]多芯片层叠封装方法有效
申请号: | 201410253341.X | 申请日: | 2014-06-10 |
公开(公告)号: | CN104008998A | 公开(公告)日: | 2014-08-27 |
发明(设计)人: | 隋春飞;孟新玲 | 申请(专利权)人: | 山东华芯半导体有限公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L21/50 |
代理公司: | 济南泉城专利商标事务所 37218 | 代理人: | 丁修亭 |
地址: | 250101 山东省济南市高新*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明公开了一种在制程中开盲孔,从而能够综合前通孔方法和后通孔方法的优点,分割成单体前,芯片的主体结构基本成型,减少了工序间的重复作业,降低了成本,并提高了效率。且堆叠时通过匹配焊接成型,效率也比较高。 | ||
搜索关键词: | 芯片 层叠 封装 方法 | ||
【主权项】:
一种多芯片层叠封装方法,应用于三维封装体,将位于最上面的芯片记为表层芯片,其余为中间芯片,其特征在于,中间芯片的制作方法包括以下步骤:1)于晶圆的下表面布线,形成下表面布线层;2)于下表面布线层上覆盖下表面钝化层;3)在预定的焊盘位置蚀刻下表面钝化层直至下表面布线层,形成焊盘点位;4)在步骤3)形成的焊盘点位制作焊盘,用以接出下表面布线层;5)于晶圆的上表面需要减薄的厚度处制作上表面布线层;6)于上表面布线层上覆盖上表面钝化层;7)在预定的焊盘位置蚀刻上表面钝化层直至上表面布线层,形成焊盘点位;8)在步骤7)形成的焊盘点位制作焊盘,用以接出上表面布线层;9)在给定的区域从下表面制作盲孔直至上表面布线层;10)在盲孔内制作电连接结构,以连接上表面布线层与下表面布线层;11)在上表面钝化层上生长硅;12)对生长硅后的晶圆进行切割,研磨,分离生成单颗晶片;13)在单颗晶片上匹配焊盘制作凸点,形成中间芯片。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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