[发明专利]多芯片层叠封装方法有效

专利信息
申请号: 201410253341.X 申请日: 2014-06-10
公开(公告)号: CN104008998A 公开(公告)日: 2014-08-27
发明(设计)人: 隋春飞;孟新玲 申请(专利权)人: 山东华芯半导体有限公司
主分类号: H01L21/768 分类号: H01L21/768;H01L21/50
代理公司: 济南泉城专利商标事务所 37218 代理人: 丁修亭
地址: 250101 山东省济南市高新*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开了一种在制程中开盲孔,从而能够综合前通孔方法和后通孔方法的优点,分割成单体前,芯片的主体结构基本成型,减少了工序间的重复作业,降低了成本,并提高了效率。且堆叠时通过匹配焊接成型,效率也比较高。
搜索关键词: 芯片 层叠 封装 方法
【主权项】:
一种多芯片层叠封装方法,应用于三维封装体,将位于最上面的芯片记为表层芯片,其余为中间芯片,其特征在于,中间芯片的制作方法包括以下步骤:1)于晶圆的下表面布线,形成下表面布线层;2)于下表面布线层上覆盖下表面钝化层;3)在预定的焊盘位置蚀刻下表面钝化层直至下表面布线层,形成焊盘点位;4)在步骤3)形成的焊盘点位制作焊盘,用以接出下表面布线层;5)于晶圆的上表面需要减薄的厚度处制作上表面布线层;6)于上表面布线层上覆盖上表面钝化层;7)在预定的焊盘位置蚀刻上表面钝化层直至上表面布线层,形成焊盘点位;8)在步骤7)形成的焊盘点位制作焊盘,用以接出上表面布线层;9)在给定的区域从下表面制作盲孔直至上表面布线层;10)在盲孔内制作电连接结构,以连接上表面布线层与下表面布线层;11)在上表面钝化层上生长硅;12)对生长硅后的晶圆进行切割,研磨,分离生成单颗晶片;13)在单颗晶片上匹配焊盘制作凸点,形成中间芯片。
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