[发明专利]一种适用于M类PMU单元的同步相量测量方法有效
| 申请号： | 201410253799.5 | 申请日： | 2014-06-09 |
| 公开（公告）号： | CN104020352A | 公开（公告）日： | 2014-09-03 |
| 发明（设计）人： | 刘灏;毕天姝 | 申请（专利权）人： | 华北电力大学 |
| 主分类号： | G01R25/00 | 分类号： | G01R25/00 |
| 代理公司： | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人： | 郑立明;郑哲 |
| 地址： | 102206*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种适用于M类PMU单元的同步相量测量方法，该方法包括：将针对相量因子的低通数字滤波器与离散傅立叶算法DFT相结合，计算得到消除频谱泄漏后的初始量测相量；利用二阶泰勒级数对所述动态相量进行拟合，获得DFT平均化效应造成的量测误差，并基于该误差对所述初始相量进行补偿，获得精确的动态量测相量；在相量上传处设置一针对M类相量量测单元PMU的低阶数字滤波器，将所述精确的量测相量作为输入，获得最终量测相量。通过采用本发明公开的方法，在输入为静态信号及动态信号时，均可准确且快速地进行相量量测，其相量量测精度可以满足IEEE C37.118.1的要求，并普遍可高出一个数量级。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 适用于 pmu 单元 同步 测量方法 | ||
【主权项】：
一种适用于M类PMU单元的同步相量测量方法，其特征在于，该方法包括：将针对相量因子的低通数字滤波器与离散傅立叶算法DFT相结合，计算得到消除频谱泄漏后的初始量测相量；利用二阶泰勒级数对所述动态相量进行拟合，获得DFT平均化效应造成的量测误差，并基于该误差对所述初始相量进行补偿，获得精确的动态量测相量；在相量上传处设置一针对M类相量量测单元PMU的低阶数字滤波器，将所述精确的量测相量作为输入，获得最终量测相量。
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