[发明专利]非侵入式传感器系统有效

专利信息
申请号: 201410255909.1 申请日: 2014-06-10
公开(公告)号: CN104515544B 公开(公告)日: 2019-07-02
发明(设计)人: M·S·舒马赫 申请(专利权)人: 罗斯蒙特公司
主分类号: G01D21/02 分类号: G01D21/02
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 曹雯
地址: 美国明*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种非侵入式传感器系统包括设置在过程中以测量不同的输入过程现象的传感器阵列以及使用经验模型来分析传感器测量值以产生未由该传感器阵列中的任意一个传感器直接测量的另一个过程现象的估计值的逻辑单元。该传感器阵列中的传感器可以是非侵入式传感器,该非侵入式传感器以侵入式或非侵入式的方式测量输入过程现象但是关于输出过程现象是非侵入式的,因为这些传感器中的任意一个都没有直接接触表现该输出过程现象的过程流体或过程元素。传感器阵列中的传感器可以是用于产生过程中的不同或相同位置处的特定过程现象的测量值的任意类型的传感器。
搜索关键词: 传感器 传感器阵列 非侵入式 测量 传感器系统 输出过程 输入过程 侵入式 侵入式传感器 分析传感器 过程流体 过程元素 经验模型 逻辑单元 直接测量 位置处 表现
【主权项】:
1.一种用于在过程中分析过程设备的操作的测量系统,包括:包括设置在所述过程中的至少一个非侵入式传感器的多个传感器,其中,所述多个传感器中的每个传感器测量所述过程中的不同物理过程现象以产生用于指示物理过程现象的传感器测量值,并且其中,所述至少一个非侵入式传感器关于所述过程非侵入式地测量相应的物理过程现象;以及可通信地耦接到所述多个传感器中的每个传感器以接收所述传感器测量值的逻辑模块,所述逻辑模块包括逻辑引擎以及用于将所述不同物理过程现象中的每个物理过程现象的值的测量值与另一个物理过程现象相关的模型,其中,所述逻辑模块在计算机处理器设备上操作以使用所述模型和所述传感器测量值来确定所述另一个物理过程现象的值。
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