[发明专利]介电材料、由其形成子组件的方法以及由此形成的子组件有效
申请号: | 201410256145.8 | 申请日: | 2010-06-11 |
公开(公告)号: | CN104053302B | 公开(公告)日: | 2017-08-29 |
发明(设计)人: | 桑卡尔·K·保罗;斯科特·D·肯尼迪;迪尔克·M·巴尔斯 | 申请(专利权)人: | 罗杰斯公司 |
主分类号: | H05K1/03 | 分类号: | H05K1/03;H05K3/38;B05D7/16;C08L71/12;C08L47/00;C08L53/02;C08K3/22;C08K3/36;C08K3/24;C09J171/12;C08J5/18 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人: | 朱胜,陈炜 |
地址: | 美国康*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种电路子组件,包括由介电组合物形成的介电层,在以该组合物的总体积计的情况下,该介电组合物包括约15至约65体积百分比的介电填料;以及约35至约85体积百分比的热固性组合物,该热固性组合物包括聚芳醚,以及羧基官能化的聚丁二烯或聚异戊二烯聚合物。 | ||
搜索关键词: | 材料 形成 组件 方法 以及 由此 | ||
【主权项】:
一种电路子组件,包括:芯,其中,所述芯包括:具有第一表面和相反的第二表面的芯介电基板层,其中所述芯介电基板层的组合物基于1,2‑聚丁二烯、聚四氟乙烯或液晶聚合物,和布置在所述芯介电基板层的所述第一表面上的第一芯布线层;以及介电层,所述介电层布置在所述第一芯布线层上,其中,所述介电层由介电组合物形成,在以所述介电组合物的总体积计的情况下,所述介电组合物包括:30至65体积百分比的介电填料,其占所述介电组合物的至少15重量百分比wt%,其中所述介电填料具有0.1到15微米的平均颗粒尺寸;和35至85体积百分比的热固性组合物,所述热固性组合物包括:30至50重量百分比的未改性聚芳醚,20至40重量百分比的羧基官能化的聚丁二烯或聚异戊二烯聚合物,和20至40重量百分比的弹性体嵌段共聚物。
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