[发明专利]二氧化碲基底上的一种中短波红外增透膜有效

专利信息
申请号: 201410258890.6 申请日: 2014-06-12
公开(公告)号: CN104035146A 公开(公告)日: 2014-09-10
发明(设计)人: 罗海瀚;刘定权;蔡清元;李耀鹏 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: G02B1/11 分类号: G02B1/11
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 郭英
地址: 200083 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了本发明公开了二氧化碲基底上的一种中短波红外增透膜,该增透膜使用了硫化锌(ZnS)和氟化镱(YbF3)为不同折射率的膜层材料,使用离子源辅助沉积与合适的基底烘烤温度等特定工艺条件,在基底的两个表面分别沉积8层非规整的膜层。该增透膜元件可以使得在1.25~4.0微米(μm)区间具有良好的透光效果,平均透过率>95%。TeO2晶体是一种优质的声光晶体,广泛应用于声光调制器,该增透膜可以有效提高声光调制器的光学效率,在宽光谱应用方面呈现出明显优势。
搜索关键词: 氧化 基底 一种 中短波 红外 增透膜
【主权项】:
二氧化碲基底上的一种中短波红外增透膜,其结构为:在基底的一面沉积正面膜系(1),在基底的另一面沉积反面膜系(3),其特征在于:a、所述的正面膜系(1)的膜系结构为:基底/0.314H0.025L1.961H0.078L0.496H0.257L0.258H0.894L/空气其中,H表示一个λ0/4光学厚度的ZnS膜层,L表示一个λ0/4光学厚度的YbF3膜层,λ0为中心波长,H与L前的数字为膜层的厚度比例系数;b、所述的反面膜系(3)的膜系结构为:基底/0.28H0.022L1.638H0.076L0.396H0.227L0.204H0.743L/空气其中,H表示一个λ0/4光学厚度的ZnS膜层,L表示一个λ0/4光学厚度的YbF3膜层,H与L前的数字为膜层的厚度比例系数。
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