[发明专利]一种使用简易探头进行插损测试的方法无效

专利信息
申请号: 201410262276.7 申请日: 2014-06-13
公开(公告)号: CN103995185A 公开(公告)日: 2014-08-20
发明(设计)人: 吴修权 申请(专利权)人: 浪潮电子信息产业股份有限公司
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26
代理公司: 济南信达专利事务所有限公司 37100 代理人: 姜明
地址: 250014 山东*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明提供一种使用简易探头进行插损测试的方法,其具体实现过程为:在设置有接地点的阻抗测试条coupon的印制电路板PCB上设置两条走线,该两条走线的叠层、测试点及过孔完全相同,其中一条走线的长度长于另一条走线的长度;使用矢量网络分析仪结合探头,分别测出上述两条走线过孔的插损;将两条走线过孔插损的差值除以两条走线长度的差值,计算出单位长度上的插损,该插损即为测量插损。该一种使用简易探头进行插损测试的方法和现有技术相比,整体测试工具制作成本低廉,信号测试精准,其整体稳定性好、可靠性高、操作方便、价格低廉并且探头不易损坏。
搜索关键词: 一种 使用 简易 探头 进行 测试 方法
【主权项】:
一种使用简易探头进行插损测试的方法,其特征在于其具体实现过程为:一、在设置有接地点的阻抗测试条coupon的印制电路板PCB上设置两条走线,该两条走线的叠层、测试点及过孔完全相同,其中一条走线的长度长于另一条走线的长度;二、使用矢量网络分析仪结合探头,分别测出上述两条走线过孔的插损;三、将两条走线过孔插损的差值除以两条走线长度的差值,计算出单位长度上的插损,该插损即为测量插损。
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