[发明专利]一种考虑整体度量的实测光谱曲线中异常光谱的剔除方法有效
| 申请号： | 201410264087.3 | 申请日： | 2014-06-13 |
| 公开（公告）号： | CN104062008A | 公开（公告）日： | 2014-09-24 |
| 发明（设计）人： | 詹云军;苏余斌;黄解军;余晨;邓安鑫;朱捷缘 | 申请（专利权）人： | 武汉理工大学 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28 |
| 代理公司： | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人： | 潘杰 |
| 地址： | 430070 湖北省*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种考虑整体度量的实测光谱曲线中异常光谱的剔除方法，用局部度量欧氏距离ED、余弦角CA和整体度量光谱信息散度SID的值，进行归一化处理后计算表达式(ED×SID)/CA的值，人工确定阈值之后提出表达式(ED×SID)/CA位于阈值上方的光谱点，完成异常光谱的剔除。还可以在二维平面上以阈值为纵坐标，确定一个阈值线，在以光谱编号和表达式(ED×SID)/CA的值建立的二维平面散点图上剔除阈值线之上的光谱点，完成异常光谱的剔除。本发明加入光谱信息散度SID可定量表征光谱整体相似性。从光谱局部与整体性区分其与标准光谱集之间的差异，弥补了传统利用距离、角度度量不能区分光谱整体相似性的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 考虑 整体 度量 实测 光谱 曲线 异常 剔除 方法 | ||
【主权项】：
一种考虑整体度量的实测光谱曲线中异常光谱的剔除方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1)，对实测光谱曲线进行预处理；步骤2)，计算经预处理的实测光谱曲线与标准光谱集平均光谱之间的局部度量和整体度量，并将计算结果归一化到0‑1之间，所述局部度量包括欧氏距离ED和余弦角CA，所述整体度量包括光谱信息散度SID；步骤3)，依据上述经归一化到0‑1之间的欧氏距离ED、余弦角CA和光谱信息散度SID的值，计算表达式(ED×SID)/CA的值；步骤4)，设定异常光谱阈值，表达式(ED×SID)/CA的值中位于所述异常光谱阈值之上的点即为异常光谱。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉理工大学，未经武汉理工大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410264087.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
